一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法

    公开(公告)号:CN104197975B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410398045.9

    申请日:2014-08-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法,确定迭代次数Nint,即可实现在迭代过程中动态调整Δt,自适应校正传感器输出,克服了利用算术平均的延时和递推平均等不具备的自适应性;本发明方法运算简单,适用于智能传感器自身信息处理单元实时校正,实现软件补偿硬件不足,在一定程度克服传感器自身分辨率所造成的测量不准确性,提高测量精度;本发明方法,不仅可以提高传感器测量数据的准确性,还具有一定的去噪能力,可直接用于传感器输出数据处理。

    一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法

    公开(公告)号:CN104197975A

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201410398045.9

    申请日:2014-08-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于测量值微分约束的传感器测量精度提高方法,确定迭代次数Nint,即可实现在迭代过程中动态调整Δt,自适应校正传感器输出,克服了利用算术平均的延时和递推平均等不具备的自适应性;本发明方法运算简单,适用于智能传感器自身信息处理单元实时校正,实现软件补偿硬件不足,在一定程度克服传感器自身分辨率所造成的测量不准确性,提高测量精度;本发明方法,不仅可以提高传感器测量数据的准确性,还具有一定的去噪能力,可直接用于传感器输出数据处理。

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