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公开(公告)号:CN103754028B
公开(公告)日:2015-10-28
申请号:CN201410021514.5
申请日:2014-01-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: B43L11/055
Abstract: 本发明公开了一种椭圆规,包括手拿板,角度摆杆,转轴,转动套和画笔组件,画笔组件包括画笔,画笔锁紧孔,粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁和转动块,转动块焊接于画笔锁紧孔上,画笔的一端套入所述画笔锁紧孔中,另一端固定连接粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁与粉笔夹紧孔配合;角度摆杆呈倒L型,一端与手拿板活动连接,另一端设有转轴固定套,转轴的一端固定于转轴固定套内,另一端套有转动套,转动套一方面可以以转轴为圆心转动,另一方面可以在重力作用下沿着转轴的轴向方向上下移动,转动套上设有转动限位孔,转动限位孔与画笔组件的转动块活动连接。该椭圆规设计巧妙,为椭圆的准确绘制提供了一种实用工具。
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公开(公告)号:CN106247927A
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201610649156.1
申请日:2016-08-09
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/34
Abstract: 本发明公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量装置,包括安装部件、平动单元、工作平台、转动单元和测量单元,平动单元用于实现测量单元相对于工作平台的三轴向位移;工作平台用于放置待测工件;转动单元用于实现测量单元的姿态的调整,测量单元安装在转动单元的转动端上,该装置可实现具有大曲率特征的负曲率直纹曲面工件的表面粗糙度的测量,且测量过程中的扫描方式符合国家标准。本发明还公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量方法,通过输入坐标的方式设定待测点,可实现待测工件表面任一点的重复定点定位测量,使用户操作更为便捷。
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公开(公告)号:CN103754028A
公开(公告)日:2014-04-30
申请号:CN201410021514.5
申请日:2014-01-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: B43L11/055
Abstract: 本发明公开了一种椭圆规,包括手拿板,角度摆杆,转轴,转动套和画笔组件,画笔组件包括画笔,画笔锁紧孔,粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁和转动块,转动块焊接于画笔锁紧孔上,画笔的一端套入所述画笔锁紧孔中,另一端固定连接粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁与粉笔夹紧孔配合;角度摆杆呈倒L型,一端与手拿板活动连接,另一端设有转轴固定套,转轴的一端固定于转轴固定套内,另一端套有转动套,转动套一方面可以以转轴为圆心转动,另一方面可以在重力作用下沿着转轴的轴向方向上下移动,转动套上设有转动限位孔,转动限位孔与画笔组件的转动块活动连接。该椭圆规设计巧妙,为椭圆的准确绘制提供了一种实用工具。
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公开(公告)号:CN106247927B
公开(公告)日:2019-08-20
申请号:CN201610649156.1
申请日:2016-08-09
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/34
Abstract: 本发明公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量装置,包括安装部件、平动单元、工作平台、转动单元和测量单元,平动单元用于实现测量单元相对于工作平台的三轴向位移;工作平台用于放置待测工件;转动单元用于实现测量单元的姿态的调整,测量单元安装在转动单元的转动端上,该装置可实现具有大曲率特征的负曲率直纹曲面工件的表面粗糙度的测量,且测量过程中的扫描方式符合国家标准。本发明还公开了一种负曲率直纹曲面表面粗糙度测量方法,通过输入坐标的方式设定待测点,可实现待测工件表面任一点的重复定点定位测量,使用户操作更为便捷。
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公开(公告)号:CN203697787U
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201420029008.6
申请日:2014-01-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: B43L11/055
Abstract: 本实用新型公开了一种椭圆规,包括手拿板,角度摆杆,转轴,转动套和画笔组件,画笔组件包括画笔,画笔锁紧孔,粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁和转动块,转动块焊接于画笔锁紧孔上,画笔的一端套入所述画笔锁紧孔中,另一端固定连接粉笔夹紧孔,粉笔夹紧锁与粉笔夹紧孔配合;角度摆杆呈倒L型,一端与手拿板活动连接,另一端设有转轴固定套,转轴的一端固定于转轴固定套内,另一端套有转动套,转动套一方面可以以转轴为圆心转动,另一方面可以在重力作用下沿着转轴的轴向方向上下移动,转动套上设有转动限位孔,转动限位孔与画笔组件的转动块活动连接。该椭圆规设计巧妙,为椭圆的准确绘制提供了一种实用工具。
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