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公开(公告)号：CN107144736A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710375536.5
申请日：2017-05-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
CPC classification number: G01R27/2682
Abstract: 本发明提供一种材料复介电常数准光腔法宽频测试非等相位面修正方法，可实现一个样品宽频复介电常数准确测试。通过对准光腔中高斯波束电磁场相位分布的分析，根据待测样品上表面，即空气与介质区域分界面处束腰半径的匹配关系，获得样品上表面处实际相位分布函数。通过微扰理论求解样品平面和波前球面间隙中的储能，从而得到由样品表面与波前相位不匹配引起的频移。再结合预设公式对样品上表面处非等相位面进行了修正；修正了准光腔法宽频测试中由于样品厚度带来的非等相位面误差的影响，能够更为有效地进行准光腔法材料复介电常数的宽频测试，提高了准光腔法多模宽频测试的精度。
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公开(公告)号：CN107085149A
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201710284524.1
申请日：2017-04-25
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: G01R27/2623 , G01R27/02 , G01R33/1223
Abstract: 本发明提供一种引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统，包括图像采集处理子系统和材料微波参数测试子系统；进行材料微波参数精确测试的方法为：首先对每个微型摄像机进行标定，求解各个坐标系与自定义全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量，通过多个摄像头获取样品图像数据，利用每个坐标系与全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量，计算出样品三维坐标以及样品材料在测试夹具中的真实位置坐标和形状变化量，并测试算法中的函数系数或求解域进行修正，进一步提高测试精度；本发明可实时准确获取样品位置和形态变化，而不会影响微波材料测试；可有效减小样品位置偏移和形状变化对测试结果造成的影响，进一步提高测试精度。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN107422780B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201710669317.8
申请日：2017-08-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于指令架构的任意波形发生器，针对传统复杂序列波形合成方法中的地址发生器与序列发生器耦合紧密的特点，提出用波形合成指令集控制器替代序列发生器，实现波形合成指令和波形段波形数据读取分时调度，降低了硬件复杂性，从而快速高效地合成并产生复杂序列波。
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公开(公告)号：CN107422780A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710669317.8
申请日：2017-08-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于指令架构的任意波形发生器，针对传统复杂序列波形合成方法中的地址发生器与序列发生器耦合紧密的特点，提出用波形合成指令集控制器替代序列发生器，实现波形合成指令和波形段波形数据读取分时调度，降低了硬件复杂性，从而快速高效地合成并产生复杂序列波。
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