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公开(公告)号：CN113114247B
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN202110416761.5
申请日：2021-04-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体为一种基于比较时间探测器的流水线ADC级间增益校准方法。本发明的方法是基于比较时间探测器电路的特性实现对放大器增益误差的校准。比较时间探测器最开始常用在SAR ADC中用于校准电容失配，本发明将比较时间探测器运用于流水线ADC中，使用比较时间探测器对流水线ADC的级间增益误差进行校准，并通过改进的算法解决了由比较器偏移引起的校准精度下降问题。本发明提出的级间增益校准方法原理简单且易于实现，能够适用于任何流水线型模数转换器，用于校准流水线型模数转换器输出码字中由级间增益误差带来的误差，显著的提高了级间增益的校准精度，从而有效提升了整体ADC的性能。
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公开(公告)号：CN114499519B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202210078828.3
申请日：2022-01-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体涉及一种用于逐次逼近型模数转换器的比较器亚稳态检测电路。本发明包括亚稳态检测模块、亚稳态标志位锁存模块、采样信号控制开关和延时控制数字码选择模块。亚稳态检测模块用于判断比较器是否发生亚稳态。亚稳态标志位锁存模块在每一次亚稳态检测后对亚稳态标志信号进行锁存。采样信号控制开关控制逐次逼近型模数转换器在延时控制数字码选择模式下不对输入信号进行采样。延时控制数字码选择模块根据每个采样周期内最后两次比较中亚稳态的发生情况，采用逐次逼近的方式对第一延时控制数字码进行调整，使得亚稳态判断模块的亚稳态电压检测电压范围维持在模数转换器的一个最低有效位附近。
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公开(公告)号：CN114499519A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210078828.3
申请日：2022-01-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体涉及一种用于逐次逼近型模数转换器的比较器亚稳态检测电路。本发明包括亚稳态检测模块、亚稳态标志位锁存模块、采样信号控制开关和延时控制数字码选择模块。亚稳态检测模块用于判断比较器是否发生亚稳态。亚稳态标志位锁存模块在每一次亚稳态检测后对亚稳态标志信号进行锁存。采样信号控制开关控制逐次逼近型模数转换器在延时控制数字码选择模式下不对输入信号进行采样。延时控制数字码选择模块根据每个采样周期内最后两次比较中亚稳态的发生情况，采用逐次逼近的方式对第一延时控制数字码进行调整，使得亚稳态判断模块的亚稳态电压检测电压范围维持在模数转换器的一个最低有效位附近。
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公开(公告)号：CN113114247A
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202110416761.5
申请日：2021-04-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体为一种基于比较时间探测器的流水线ADC级间增益校准方法。本发明的方法是基于比较时间探测器电路的特性实现对放大器增益误差的校准。比较时间探测器最开始常用在SAR ADC中用于校准电容失配，本发明将比较时间探测器运用于流水线ADC中，使用比较时间探测器对流水线ADC的级间增益误差进行校准，并通过改进的算法解决了由比较器偏移引起的校准精度下降问题。本发明提出的级间增益校准方法原理简单且易于实现，能够适用于任何流水线型模数转换器，用于校准流水线型模数转换器输出码字中由级间增益误差带来的误差，显著的提高了级间增益的校准精度，从而有效提升了整体ADC的性能。
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