高DQE成像设备
    1.
    发明公开
    高DQE成像设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN108369281A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680070933.5

    申请日:2016-09-29

    CPC classification number: G01T1/2018 G01T1/2002

    Abstract: 一种成像设备,包括:闪烁体层;以及光电二极管元件阵列;其中闪烁体层被配置为接收已经穿过光电二极管元件阵列之后的辐射。一种成像设备,包括:闪烁体层,具有多个闪烁体元件,多个闪烁体元件被配置为将辐射转换为光子;以及光电二极管元件阵列,被配置为从闪烁体层接收光子,并且响应于接收到的光子,生成电信号;其中闪烁体元件中的至少两个闪烁体元件由空气间隙分离。一种成像设备,包括:第一闪烁体层,具有被布置在第一平面中的多个闪烁体元件;以及第二闪烁体层,具有被布置在第二平面中的多个闪烁体元件;其中第一闪烁体层和第二闪烁体层被布置为邻近彼此,并且相对于彼此形成非零角。

    用于多能量X射线成像的系统、方法和设备

    公开(公告)号:CN110381836B

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN201880015753.6

    申请日:2018-01-03

    Abstract: 一种系统可以具有x射线源,该x射线源生成一系列个体x射线脉冲以用于多能量成像。第一x射线脉冲可以具有第一能量级别,并且该系列中的随后的第二x射线脉冲可以具有不同于第一能量级别的第二能量级别。x射线成像器可以接收来自x射线源的x射线,并且可以检测所接收的x射线以用于图像生成。生成器接口盒(GIB)控制x射线源以提供一系列个体x射线脉冲,并且使x射线成像器进行的检测与个体x射线脉冲的生成同步。GIB可以控制x射线脉冲生成和同步以优化图像生成,同时最小化不必要的x射线照射。

    用于多能量X射线成像的系统、方法和设备

    公开(公告)号:CN110381836A

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201880015753.6

    申请日:2018-01-03

    Abstract: 一种系统可以具有x射线源,该x射线源生成一系列个体x射线脉冲以用于多能量成像。第一x射线脉冲可以具有第一能量级别,并且该系列中的随后的第二x射线脉冲可以具有不同于第一能量级别的第二能量级别。x射线成像器可以接收来自x射线源的x射线,并且可以检测所接收的x射线以用于图像生成。生成器接口盒(GIB)控制x射线源以提供一系列个体x射线脉冲,并且使x射线成像器进行的检测与个体x射线脉冲的生成同步。GIB可以控制x射线脉冲生成和同步以优化图像生成,同时最小化不必要的x射线照射。

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