半导体装置
    1.
    发明公开
    半导体装置 审中-公开

    公开(公告)号:CN117747589A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202310951346.9

    申请日:2023-07-31

    Abstract: 本公开涉及一种半导体装置。半导体芯片包括下布线层、形成在下布线层上的多层布线层,以及形成在多层布线层上的上布线层。这里,下布线层中所设置的布线的厚度大于多层布线层中所设置的多个布线中的每个布线的厚度,并且上布线层中所设置的布线的厚度大于多层布线层中所设置的多个布线中的每个布线的厚度。作为变压器的组件的下电感器被设置在下布线层中,并且作为变压器的组件的上电感器被设置在上布线层中。

    半导体器件
    3.
    发明公开
    半导体器件 审中-公开

    公开(公告)号:CN118053842A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202311456833.4

    申请日:2023-11-03

    Abstract: 一种半导体器件,包括:半导体衬底;多层布线层,被形成在半导体衬底上;第一布线,被形成在多层布线层上并且被配置为被施加有第一电位;上电感器,被形成在多层布线层上并且被配置为被施加有不同于第一电位的第二电位;无机绝缘膜,被形成在多层布线层、第一布线和上电感器上;以及有机绝缘膜,被形成在无机绝缘膜上并且被设置为覆盖平面图中位于第一布线与上电感器之间的无机绝缘膜。这里,在第一布线与上电感器之间,暴露无机绝缘膜的上表面的一部分的开口部被形成在有机绝缘膜中。

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