半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101656253B

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN200910165463.2

    申请日:2009-08-18

    Abstract: 本发明提供一种半导体器件。pMIS区域形成在沿着第一方向(X)经过多个标准单元(Cff)的每一个的边界(BR)与第一外边(OTp)之间。nMIS区域形成在边界(BR)与第二外边(OTn)之间。电源布线(VD)和接地布线(VS)分别沿着第一外边和第二外边(OTp、OTn)延伸。多条pMIS布线(MIp)和多条nMIS布线(Min)分别被配置在沿着第一方向(X)延伸且沿着第二方向(Y)以一定的间距(Pmin)配置的多条第一假想线(VLp)和多条第二假想线(VLn)上。多条第一假想线(VLp)中最接近边界(BR)的线与多条第二假想线(VLn)中最接近边界(BR)的线之间的间隔大于一定的间距(Pmin)。

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