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公开(公告)号:CN102313841A
公开(公告)日:2012-01-11
申请号:CN201110125798.9
申请日:2011-05-06
申请人: 特克特朗尼克公司
IPC分类号: G01R23/16
CPC分类号: G01R13/0263 , G01R13/0227 , G01R13/0254
摘要: 本发明的名称为使用差位图的信号检测和触发。测试和测量仪器将表示输入信号的数字数据转换为多个位图,并且然后将所述位图之一从所述位图的另一个中减去,以便产生差位图。差位图没有包含两个位图共同的密度值,而是仅包含两个之间的密度差,由此揭示在大密度值存在时的极小密度变化。在一些实施例中,在显示装置上显示差位图。在其它实施例中,差位图用于生成触发信号。
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公开(公告)号:CN102313841B
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201110125798.9
申请日:2011-05-06
申请人: 特克特朗尼克公司
IPC分类号: G01R23/16
CPC分类号: G01R13/0263 , G01R13/0227 , G01R13/0254
摘要: 本发明的名称为使用差位图的信号检测和触发。测试和测量仪器将表示输入信号的数字数据转换为多个位图,并且然后将所述位图之一从所述位图的另一个中减去,以便产生差位图。差位图没有包含两个位图共同的密度值,而是仅包含两个之间的密度差,由此揭示在大密度值存在时的极小密度变化。在一些实施例中,在显示装置上显示差位图。在其它实施例中,差位图用于生成触发信号。
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公开(公告)号:CN102037478A
公开(公告)日:2011-04-27
申请号:CN200980118624.0
申请日:2009-05-22
申请人: 特克特朗尼克公司
CPC分类号: G06K9/0053 , G01R13/0227 , G01R13/029 , G06K9/4647
摘要: 本发明提供了一种用于在RF测试和测量设备的位图中表示的信号特性的自动搜索的方法。经由时变信号的采样来填充该位图,其中,由位图的X轴反映第一信号特性,由位图的Y轴反映第二信号特性,并且由位图的Z轴反映第三信号特性。所述方法包括:选择位图的区域。所述方法还包括针对所述区域生成位图的Z值相对于位图的Y值的直方图,搜索直方图以得到直方图中的满足预定搜索标准的任何部分,并识别与直方图的满足所述预定搜索标准的每个部分相对应的位图的位置。
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