公开(公告)号：CN100516877C

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200480016041.4

申请日：2004-10-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 坂本久 ,  松田猛 ,  江川浩司 ,  才治哲明

IPC: G01N33/52

Abstract: 本发明提供一种标本分析用具，信息量充分且能够正确地提供信息，并且在其信息的读取中，分析装置不需要特别的机构。在基板(13)上形成有试剂层(11)及信息记录层(12)的标本分析用具(1)，其中，将所述信息记录层分为一个区域或多个区域，将这些区域分别用单一色着色，用所述多个区域的所述单一色的浓淡的组合及所述各区域的面积中的至少一个来记录信息。

公开(公告)号：CN1802564A

公开(公告)日：2006-07-12

申请号：CN200480016041.4

申请日：2004-10-19

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 坂本久 ,  松田猛 ,  江川浩司 ,  才治哲明

IPC: G01N33/52

Abstract: 本发明提供一种标本分析用具，信息量充分且能够正确地提供信息，并且在其信息的读取中，分析装置不需要特别的机构。在基板(13)上形成有试剂层(11)及信息记录层(12)的标本分析用具(1)，其中，将所述信息记录层分为一个区域或多个区域，将这些区域分别用单一色着色，用所述多个区域的所述单一色的浓淡的组合及所述各区域的面积中的至少一个来记录信息。

公开(公告)号：CN1717596A

公开(公告)日：2006-01-04

申请号：CN200380104295.7

申请日：2003-11-20

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 东五十川行雄 ,  冈淳一 ,  才治哲明

IPC: G01V8/14 ,  G01N21/78

Abstract: 本发明涉及一种分析装置，包括：测光机构(6)，具有用于向为了分析试料的试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部，以及检测机构(4)，具有用于检测在目标区域是否存在试验用具而向试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部。测光机构(6)的光射出部和受光部以光射出部的射出中心轴和受光部的受光中心轴互相平行或者大致平行的方式而配置。检测机构(4)的一个以上的受光部构成为选择性地接收从光射出部射出的光中的、在试验用具(7)正反射的光。

公开(公告)号：CN1717596B

公开(公告)日：2012-09-05

申请号：CN200380104295.7

申请日：2003-11-20

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 东五十川行雄 ,  冈淳一 ,  才治哲明

IPC: G01V8/14 ,  G01N21/78

Abstract: 本发明涉及一种分析装置，包括：测光机构(6)，具有用于向为了分析试料的试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部，以及检测机构(4)，具有用于检测在目标区域是否存在试验用具而向试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部。测光机构(6)的光射出部和受光部以光射出部的射出中心轴和受光部的受光中心轴互相平行或者大致平行的方式而配置。检测机构(4)的一个以上的受光部构成为选择性地接收从光射出部射出的光中的、在试验用具(7)正反射的光。