分析装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1668926A

    公开(公告)日:2005-09-14

    申请号:CN03817174.0

    申请日:2003-07-17

    Inventor: 冈淳一

    Abstract: 本发明涉及具备用于搬送分析对象物(4)的旋转体(3)的分析装置(1)。该分析装置(1)这样构造而成:使负压作用于分析对象物(4),将分析对象物(4)保持在旋转体(3)上,在旋转体(3)的周方向D3、D4搬送分析对象物(4)。旋转体(3)优选具有:产生负压的内部空间(30)、用于将分析对象物(4)固定位置保持住的多个载置部(31A)和连通载置部(31A)与内部空间(30)的贯通孔(33)。在内部空间(30)内优选配置用于通过对于旋转体(3)做相对移动来选择贯通孔(33)为开放状态和闭塞状态的闭塞部件(7)。

    分析装置的分析物搬送装置

    公开(公告)号:CN100567988C

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN03817174.0

    申请日:2003-07-17

    Inventor: 冈淳一

    Abstract: 本发明涉及具备用于搬送分析对象物(4)的旋转体(3)的分析装置(1)。该分析装置(1)这样构造而成:使负压作用于分析对象物(4),将分析对象物(4)保持在旋转体(3)上,在旋转体(3)的周方向D3、D4搬送分析对象物(4)。旋转体(3)优选具有:产生负压的内部空间(30)、用于将分析对象物(4)固定位置保持住的多个载置部(31A)和连通载置部(31A)与内部空间(30)的贯通孔(33)。在内部空间(30)内优选配置用于通过对于旋转体(3)做相对移动来选择贯通孔(33)为开放状态和闭塞状态的闭塞部件(7)。

    光传感器、以及分析装置的检测机构和测光机构

    公开(公告)号:CN1717596A

    公开(公告)日:2006-01-04

    申请号:CN200380104295.7

    申请日:2003-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种分析装置,包括:测光机构(6),具有用于向为了分析试料的试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部,以及检测机构(4),具有用于检测在目标区域是否存在试验用具而向试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部。测光机构(6)的光射出部和受光部以光射出部的射出中心轴和受光部的受光中心轴互相平行或者大致平行的方式而配置。检测机构(4)的一个以上的受光部构成为选择性地接收从光射出部射出的光中的、在试验用具(7)正反射的光。

    光传感器、以及分析装置的检测机构和测光机构

    公开(公告)号:CN1717596B

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN200380104295.7

    申请日:2003-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种分析装置,包括:测光机构(6),具有用于向为了分析试料的试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部,以及检测机构(4),具有用于检测在目标区域是否存在试验用具而向试验用具(7)照射光的光射出部、和用于接收来自试验用具(7)的反射光的受光部。测光机构(6)的光射出部和受光部以光射出部的射出中心轴和受光部的受光中心轴互相平行或者大致平行的方式而配置。检测机构(4)的一个以上的受光部构成为选择性地接收从光射出部射出的光中的、在试验用具(7)正反射的光。

Patent Agency Ranking