公开(公告)号：CN119831925A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202411646211.2

申请日：2024-11-18

Applicant: 燕山大学

Inventor： 温银堂 ,  杜宇航 ,  渠文涵 ,  高佳 ,  梁波 ,  张玉燕

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/10 ,  G06T17/00 ,  G06T5/70 ,  G06T15/08 ,  G06T7/136

Abstract: 本发明提供一种异形陶瓷基复合材料构件的均匀性表征方法及设备，该方法包括：对CT断层图像序列进行图像前景分割，得到复合材料构件的前景轮廓图像序列；基于前景轮廓图像序列对CT断层图像序列进行孔隙缺陷分割，得到孔隙缺陷图像序列；基于孔隙缺陷图像序列进行三维空间分块，并获取分块后得到的各区块的平均灰度值；将平均灰度值替换到前景图像序列中对应区块进行三维重建，完成对复合材料构件均匀性的可视化表征。本发明解决了现有技术中的材料均匀性表征方法误差较大，无法精确的对异形构件均匀性分布差异进行精确的量化表征的问题。