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发明公开
一种陶瓷基复合材料结构密度均匀性的表征方法及系统审中-实审

公开(公告)号：CN114674854A

公开(公告)日：2022-06-28

申请号：CN202210305198.9

申请日：2022-03-25

Applicant: 燕山大学

Inventor： 张玉燕 , 于紫梦 , 温银堂 , 李启航 , 梁波

IPC: G01N23/046 , G06T7/00 , G06T7/73 , G06T5/00 , G06T5/30 , G06V10/56

Abstract: 本发明涉及一种陶瓷基复合材料结构密度均匀性的表征方法及系统，属于复合材料缺陷检测领域，经过工业CT无损检测技术对陶瓷基复合材料进行缺陷扫描，得到陶瓷基复合材料的二维切片图像；通过自适应小波阈值算法和基于多尺度顶帽的特征提取算法对二维图像进行滤波和图像增强操作，最后利用分形理论计算图像缺陷区域的分形维数，进而能够用具体数字准确表征陶瓷基复合材料结构的密度均匀性。

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