-
公开(公告)号：CN115856720A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211478006.0
申请日：2022-11-23
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G01R31/67 , G01R31/385
摘要： 本发明公开了BMS产品线束接触不良故障在线监测的安全修复方法，包括：根据预设条件判断BMS产品是否发生线束接触不良故障；确定发生所述线束接触不良故障的起始时刻，以及出现线束断开故障时刻；采集接触不良故障的起始时刻到断开故障时刻之间对应的单体电池出现异常的测量数据；通过电池工作机理，分析电池电压、电流与电池荷电状态之间的关系，并建立关系模型；计算所述关系模型中的未知参数，并计算和补充被剔除值。该方法利用电池工作原理以及单体电池数据的相关关系，对缺失数据进行插补。相比于直接的拟合函数插补，基于电池工作原理和参数相关关系模型的插补方法的理论依据更加充分，完善后的数据可有助于准确评估BMS产品可靠性。
-
公开(公告)号：CN110895628B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201811053996.7
申请日：2018-09-11
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F30/20
摘要： 一种性能退化模型预测精度验证方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）计算备选模型的预测误差；4）建立数据量、预测时长以及备选模型预测误差的关系模型；5）确定各数据量下的最优模型。本发明从预测误差角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣。为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。同时，也解决了在有限的训练数据下，如何选取最优模型的工程难题。
-
公开(公告)号：CN110895626B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201811053679.5
申请日：2018-09-11
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F30/20 , G06F111/06 , G06F111/10
摘要： 一种基于留一交叉验证的性能退化模型精度验证方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）拟合得到备选模型方程；4）计算备选模型拟合误差；5）计算备选模型的预测误差；6）利用预测误差值评价模型；7）确定最优模型。本发明从拟合误差、预测误差两个角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣，为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。
-
公开(公告)号：CN110895626A
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201811053679.5
申请日：2018-09-11
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F30/20 , G06F111/06 , G06F111/10
摘要： 一种基于留一交叉验证的性能退化模型精度验证方法，其步骤如下：1）采集数据；2）确定备选模型形式；3）拟合得到备选模型方程；4）计算备选模型拟合误差；5）计算备选模型的预测误差；6）利用预测误差值评价模型；7）确定最优模型。本发明从拟合误差、预测误差两个角度全面的、完整的评价性能退化模型的优劣，为工程研究关于模型验证和选择的方面提供一种新的思路。
-
公开(公告)号：CN110895625A
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201811053521.8
申请日：2018-09-11
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F30/20
摘要： 一种性能退化产品可靠度置信区间估计数值仿真方法，其步骤如下。1）确定随机过程类型并估计特征参数；2）确定各时间点可靠度的估计值；3）产生一定数目的伪样本；4）计算各伪样本各时间点可靠度的估计值；5）得到可靠度置信区间。本发明为性能退化产品可靠度提供了一种符合适应性强、操作性强的置信区间估计方法，为产品的寿命设计、分析及验证提供依据和保障。
-
公开(公告)号：CN110889077A
公开(公告)日：2020-03-17
申请号：CN201811049762.5
申请日：2018-09-10
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F17/10
摘要： 本发明提出了一种基于Kendall相关系数的加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验方法。方法是对来自加速贮存试验的数据进行回归拟合，得到与自然贮存数据等退化量水平下所需经历的试验时间序列。通过计算各加速应力水平与自然贮存下所对应的试验时间间隔序列的Kendall相关系数，判断两组序列的相关性，从而推断加速贮存与自然贮存下的失效机理是否保持一致。该一致性检验方法对加速试验的实施方案及其试验数据的有效性进行验证，以保证产品寿命预测与验证的有效性。
-
公开(公告)号：CN110568337A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910867943.7
申请日：2019-09-16
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 基于隐退化的金属封装功率MOSFET贮存可靠性检测技术，其步骤如下：1.确定金属封装功率MOSFET温度循环加速贮存试验方案；2.建立金属封装功率MOSFET隐退化模型；3.估计金属封装功率MOSFET隐退化模型参数；4.评估温度循环加速贮存条件下金属封装功率MOSFET贮存可靠性及贮存寿命；5.评估实际贮存条件下金属封装功率MOSFET贮存可靠寿命。本发明为金属封装功率MOSFET提供一种贮存可靠性及贮存寿命的无损检测技术，可推广至其它气密封装产品的贮存可靠性检测，提高了气密封装产品的贮存可靠性检测水平。
-
公开(公告)号：CN115902578A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211312740.X
申请日：2022-10-25
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种PCBA电路失效模式及影响分析方法，包括：获取待分析PCBA电路各级的输入端、输出端和接地端，作为各级功能接口；将各级功能接口作为分析对象，根据参考标准，完全列举输出各级功能接口的失效模式；从待分析PCBA电路最底层级开始，建立每一层级功能接口到上一层级功能接口的失效模式映射，直至最高层级；将每一层级功能接口到上一层级功能接口的相同失效模式进行合并，得到待分析PCBA电路由内部电路失效导致的故障模式；根据故障模式，对待分析PCBA电路进行影响分析。该方法保证了PCBA电路失效模式表达的统一性，提高了失效模式量化的可操作性，进而显著提高了PCBA电路失效模式及影响分析实际应用的有效性。
-
公开(公告)号：CN110889077B
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201811049762.5
申请日：2018-09-10
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F17/10
摘要： 本发明提出了一种基于Kendall相关系数的加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验方法。方法是对来自加速贮存试验的数据进行回归拟合，得到与自然贮存数据等退化量水平下所需经历的试验时间序列。通过计算各加速应力水平与自然贮存下所对应的试验时间间隔序列的Kendall相关系数，判断两组序列的相关性，从而推断加速贮存与自然贮存下的失效机理是否保持一致。该一致性检验方法对加速试验的实施方案及其试验数据的有效性进行验证，以保证产品寿命预测与验证的有效性。
-
公开(公告)号：CN110889189B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201811050510.4
申请日：2018-09-10
申请人： 湖南银杏可靠性技术研究所有限公司
IPC分类号： G06F30/20 , G06F119/04 , G06F17/18
摘要： 一种基于等退化增量时间间隔Spearman相关系数的加速贮存与自然贮存退化数据一致性检验法。方法是对来自加速贮存试验的数据进行回归拟合，得到与自然贮存数据等退化增量下所需经历的试验时间序列。通过计算各加速应力水平与自然贮存下所对应的试验时间间隔序列的Spearman秩相关系数，判断两组序列的相关性，从而推断加速贮存与自然贮存下的失效机理是否保持一致。该一致性检验方法对加速试验的实施方案及其试验数据的有效性进行验证，以保证产品寿命预测与验证的有效性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
35 条记录 (耗时 0.046 秒)
