公开(公告)号：CN117732740A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202311565495.8

申请日：2023-11-22

Applicant: 湖南立敏达电子科技有限公司 ,  西安交通大学

Inventor： 罗加义 ,  傅建 ,  刘玉深 ,  李敏 ,  陶唐飞 ,  刘子怡 ,  史志磊 ,  杨展硕 ,  于洋 ,  赵怡哲

IPC: B07C5/02 ,  B07C5/344 ,  B07C5/36

Abstract: 本申请公开了一种基于视觉定位的电子元器件柔性测试系统及方法，涉及电子元器件检测技术领域。不仅可以通过视觉系统对电子元器件进行定位，通过机械臂和二次定位装置对电子元器件进行位姿纠偏，实现无人化的电子元器件自动测试，而且可以实现快速换线，提高生产效率。该系统包括测试平台、固定框架、机械臂和视觉系统；测试平台上设有上料位、二次定位装置、测试位组和下料位；测试位组可拆卸地连接在测试平台上；视觉系统能够对上料位进行拍照，并识别待测电子元器件的平台坐标和旋转角度；机械臂固连在框架上，且与视觉系统通信连接；二次定位装置能够对待测电子元器件进行二次定位。本申请同时提供了一种基于上述测试系统的测试方法。