一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法

    公开(公告)号:CN104101418A

    公开(公告)日:2014-10-15

    申请号:CN201410289022.4

    申请日:2014-06-24

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种电子分析天平微量加载与漂移判别方法,以解决电子分析天平微量加载与漂移的技术难点。该发明包括如下步骤:a)对温度传感器输出的温度数据进行补偿;b)利用补偿后的温度数据对零点漂移量和灵敏度系数进行校正;c)利用质量采样数据、零点漂移量和灵敏度系数计算质量;d)根据质量的变化速率对微量加载和漂移进行判别。本发明方法可以快速区分漂移与加载。

    一种电子分析天平的零点跟踪装置及方法

    公开(公告)号:CN104075770A

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201410288554.6

    申请日:2014-06-24

    Applicant: 湖南大学

    Abstract: 本发明公开了一种电子分析天平的零点跟踪装置及方法,由一个防风罩(1),一个秤盘(2),一个电磁力平衡传感器(3),一个信号调理转换部分(4),一个数字信号处理MCU单元(5),一个玻璃门开关检测传感器(6),一个键盘(7),一个LCD液晶显示屏(8)依次连接而成。本发明能在电子分析天平玻璃门打开时自动开启零点跟踪功能,在玻璃门关闭时自动关闭零点跟踪功能,能自主选择是否开启零点跟踪的功能。

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