公开(公告)号：CN108562250B

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN201810467785.1

申请日：2018-05-16

Applicant: 湖南大学

Inventor： 肖昌炎 ,  缪慧司 ,  周苹 ,  谭立春 ,  张可惠

IPC: G01B11/30

Abstract: 本发明一种基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法及装置，该方法的步骤为：步骤S1：结构光模式设计及投影，产生的结构光在待测键盘各按键键帽表面上下两端各存在一条清晰的光条纹；步骤S2：多台相机采集图像序列；接收到检测信号后，相机采集已被结构光编码的键盘图像序列；步骤S3：图像拼接；将图像序列拼接成一幅完整的全尺寸键盘图像；步骤S4：键帽建模；依靠人工获得键帽掩模和键盘图像中各键帽的位置信息；步骤S5：利用平整度算法检测算法，用以实现快速检测键盘各键帽平整度。该装置用来实施上述方法。本发明具有自动化程度高、检测效率高、易实现、易维护等优点。

公开(公告)号：CN108562250A

公开(公告)日：2018-09-21

申请号：CN201810467785.1

申请日：2018-05-16

Applicant: 湖南大学

Inventor： 肖昌炎 ,  缪慧司 ,  周苹 ,  谭立春 ,  张可惠

IPC: G01B11/30

Abstract: 本发明一种基于结构光成像的键盘键帽平整度快速测量方法及装置，该方法的步骤为：步骤S1：结构光模式设计及投影，产生的结构光在待测键盘各按键键帽表面上下两端各存在一条清晰的光条纹；步骤S2：多台相机采集图像序列；接收到检测信号后，相机采集已被结构光编码的键盘图像序列；步骤S3：图像拼接；将图像序列拼接成一幅完整的全尺寸键盘图像；步骤S4：键帽建模；依靠人工获得键帽掩模和键盘图像中各键帽的位置信息；步骤S5：利用平整度算法检测算法，用以实现快速检测键盘各键帽平整度。该装置用来实施上述方法。本发明具有自动化程度高、检测效率高、易实现、易维护等优点。