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公开(公告)号:CN119814332A
公开(公告)日:2025-04-11
申请号:CN202510009481.0
申请日:2025-01-03
Applicant: 湖北工业大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光敏特性的DIO‑PUF的芯片底部攻击检测电路及方法,包括输入端口C、控制逻辑CTL、感光二极管电路、锁存型灵敏放大器LSSA、寄存器REG和输出端口KEY,该基于光敏特性的DIO‑PUF的芯片底部攻击检测电路及方法,通过检测芯片封装是否被去除,实时判断芯片的工作环境是否安全,从而提供了一种有效的防护手段,通过光敏特性DIO‑PUF技术,可以在芯片底部集成独特的数字秘钥,使得芯片在面对物理干预时能够有效验证其真实性,这种独特的身份标识可以大大增加攻击者的入侵难度,提升芯片的整体安全性,还可以用来检测芯片工作环境是否受到威胁,确保芯片在安全环境中运行,避免因环境变化导致的潜在安全问题。
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公开(公告)号:CN119496622A
公开(公告)日:2025-02-21
申请号:CN202411701104.5
申请日:2024-11-26
Applicant: 湖北工业大学
Abstract: 本发明涉及信息安全和通信技术领域,且公开了一种基于物理不可克隆电路的电芯防伪认证方法,电池管理系统包括有A模块、B模块和C模块,A模块包括有Server单元,B模块包括有MCU微控制单元,C模块包括有电芯管理芯片IC单元,电芯管理芯片IC单元内部嵌有PUF软模型,本方法分为注册阶段S1、双向认证阶段S2与密钥更新阶段S3;该方法充分利用菊花链通信中的广播命令和回传机制,结合物理不可克隆函数实现了对电芯管理芯片IC和MCU微控制单元的双向认证,电芯管理芯片IC内部只需要集成一个物理不可克隆函数和一个轻量级的密钥散列算法,3次广播命令就可以实现MCU微控制单元和多至256个电芯之间的双向认证,并确保了极高的安全性。
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