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公开(公告)号：CN114877997A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110162674.1
申请日：2021-02-05
申请人： 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
摘要： 一种自由曲面凹面光栅成像光谱仪，包括一狭缝、一自由曲面凹面光栅和一像面，从狭缝入射的光线照射到所述自由曲面凹面光栅上发生色散并反射形成一反射光束，该反射光束照射到所述像面上，使得狭缝入射的不同波长的光线分开并分别成像在像面上。本发明还涉及一种所述自由曲面凹面光栅成像光谱仪的设计方法。
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公开(公告)号：CN114879351A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110164559.8
申请日：2021-02-05
申请人： 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
IPC分类号： G02B17/06
摘要： 本发明涉及一种无对称自由曲面光学系统，包括：主反射镜、次反射镜、第三反射镜和一像面，从物出发的光线在所述主反射镜上发生反射形成第一反射光束，该第一反射光束照射到所述次反射镜上并发生反射形成第二反射光束，该第二反射光束照射到所述第三反射镜上并发生反射形成第三反射光束，该第三反射光束到达所述像面成像。所述无对称自由曲面光学系统没有旋转对称性，也没有子午对称性。
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公开(公告)号：CN114877995A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110163594.8
申请日：2021-02-05
申请人： 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
摘要： 一种自由曲面凹面光栅成像光谱仪的设计方法，其包括以下步骤：S1，选取从狭缝不同位置入射的一系列光线作为特征光线；S2，计算所述特征光线和一自由曲面凹面光栅面交点处特征数据点的坐标和法向；S3，通过拟合得到所述自由曲面凹面光栅的自由曲面面形，得到一初始结构；以及S4，优化所述初始结构。本发明还涉及一种利用所述自由曲面凹面光栅成像光谱仪的设计方法而得到的自由曲面凹面光栅成像光谱仪。
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公开(公告)号：CN117629408A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311345073.X
申请日：2023-10-17
申请人： 清华大学 , 富士康科技集团有限公司
摘要： 本发明涉及一种全息光栅成像光谱仪，其包括：狭缝，至少一个反射镜，全息光栅、孔径光阑以及探测器，所述全息光栅形成在所述反射镜上，所述孔径光阑设置在所述反射镜上，所述全息光栅通过全息光栅曝光系统形成，所述全息光栅曝光系统包括两个相干光源以及至少一个自由曲面辅助镜，一个自由曲面辅助镜设置于一个光源和所述反射镜之间。本发明涉及一种全息光栅曝光系统，其包括两个相干光源以及至少一个自由曲面辅助镜，该自由曲面辅助镜设置于一个光源和全息光栅基底反射镜之间。另外，本发明还涉及一种全息光栅，该全息光栅通过所述全息光栅曝光系统形成。
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公开(公告)号：CN117092801A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202210531470.5
申请日：2022-05-13
申请人： 清华大学
IPC分类号： G02B17/08
摘要： 本发明涉及一种离轴折反射混合光学系统，该离轴折反射混合光学系统能够实现F数小于等于1.0，包括：主反射镜，位于入射光束的入射光路上，反射入射光束形成第一反射光束；次反射镜，位于所述主反射镜的反射光路上，用于反射第一反射光束，形成第二反射光束；第三反射镜，位于所述次反射镜的反射光路上，用于反射第二反射光束，形成第三反射光束；至少一个透镜，该至少一个透镜位于所述第三反射镜的反射光路上；像面，所述第三反射光束穿过至少一个透镜到达该像面；以及孔径光阑。该离轴折反射混合光学系统在实现小F数、大视场、无遮拦、且兼顾成像质量的同时，还能够使光学系统的体积和质量更小，结构更紧凑。
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公开(公告)号：CN117433749A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202310768431.1
申请日：2023-06-27
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种光学系统的元件公差分析及品质评价方法、装置，所述分析方法包括：确定待分析光学元件的光学曲面对应的波像差容限；根据待分析光学元件的光学曲面对应的波像差容限，确定包括待分析光学元件的光学曲面上不同点的面形公差，得到曲面的局域面形公差分布。所述评价方法包括：确定待评价光学元件的光学曲面的品质评价函数；根据品质评价函数，确定待评价光学元件进行品质评价对应的品质评价函数值。本公开实施例能够实现对光学曲面具有局域分布特性的待分析光学元件的面形精度进行有效分析，以及实现基于成像质量对光学系统中的待分析光学元件的品质进行有效评价。
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