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公开(公告)号：CN105445809A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410410432.X
申请日：2014-08-19
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京华力兴科技发展有限责任公司
摘要： 公开了一种对移动目标进行快速成像检查的设备及其方法。该设备包括：通道，扫描成像装置，第一位置传感器，第二位置传感器，和控制单元。控制单元在从第一位置传感器接收的移动目标进入通道的检测信号时给电子感应加速器上电，使其处于待机状态，在第二位置传感器检测到不同区段通过所述辐射扫描区时，控制电子感应加速器出束时点和出束模式对移动目标的两部分进行相应的检查。这样，在车辆行进的过程中进行检查，不需要司乘人员下车，设备在移动目标通过扫描区时控制加速器以极快的响应速度发射相应能量的射线束进行扫描，扫描方式灵活并可以大大缩短检查时间。
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公开(公告)号：CN105445808B
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201410409522.7
申请日：2014-08-19
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 公开了一种对移动目标进行快速成像检查的设备及其方法。控制单元在从第一位置传感器接收的移动目标进入通道的检测信号时给电子感应加速器上电，使其处于待机状态，在第二位置传感器检测到不同区段通过辐射扫描区时，控制电子感应加速器出束时点和出束模式对非匀速行进的移动目标的各个区段进行相应的检查，并根据从速度传感器接收的有关移动目标的移动速度来控制对扫描图像的重建，并根据移动速度来修正扫描图像数据。这样，在车辆行进的过程中进行检查，不需要司乘人员下车。在移动目标通过扫描区时控制加速器以极快的响应速度发射相应能量的射线束进行扫描。扫描方式灵活并可以大大缩短检查时间。
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公开(公告)号：CN105445808A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201410409522.7
申请日：2014-08-19
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G01V5/00
摘要： 公开了一种对移动目标进行快速成像检查的设备及其方法。控制单元在从第一位置传感器接收的移动目标进入通道的检测信号时给电子感应加速器上电，使其处于待机状态，在第二位置传感器检测到不同区段通过辐射扫描区时，控制电子感应加速器出束时点和出束模式对非匀速行进的移动目标的各个区段进行相应的检查，并根据从速度传感器接收的有关移动目标的移动速度来控制对扫描图像的重建，并根据移动速度来修正扫描图像数据。这样，在车辆行进的过程中进行检查，不需要司乘人员下车。在移动目标通过扫描区时控制加速器以极快的响应速度发射相应能量的射线束进行扫描。扫描方式灵活并可以大大缩短检查时间。
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公开(公告)号：CN105445809B
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201410410432.X
申请日：2014-08-19
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京华力兴科技发展有限责任公司
摘要： 公开了一种对移动目标进行快速成像检查的设备及其方法。该设备包括：通道，扫描成像装置，第一位置传感器，第二位置传感器，和控制单元。控制单元在从第一位置传感器接收的移动目标进入通道的检测信号时给电子感应加速器上电，使其处于待机状态，在第二位置传感器检测到不同区段通过所述辐射扫描区时，控制电子感应加速器出束时点和出束模式对移动目标的两部分进行相应的检查。这样，在车辆行进的过程中进行检查，不需要司乘人员下车，设备在移动目标通过扫描区时控制加速器以极快的响应速度发射相应能量的射线束进行扫描，扫描方式灵活并可以大大缩短检查时间。
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公开(公告)号：CN204241395U
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201420470209.X
申请日：2014-08-19
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 北京华力兴科技发展有限责任公司
摘要： 本实用新型公开了一种对移动目标进行快速成像检查的设备。该设备包括：通道，扫描成像装置，第一位置传感器，输出传感信号表明所述移动目标是否进入所述通道，第二位置传感器，检测移动目标的类型特征并区分移动目标的受保护部分与非受保护部分，将移动目标正确分段，分别输出传感信号表明所述移动目标受保护部分正在通过和已经通过扫描区。这样，在车辆行进的过程中进行检查，不需要司乘人员下车，设备在所述移动目标通过扫描区时控制加速器以极快的响应速度发射相应能量的射线束进行扫描(根据用户需求，可以对受检移动目标进行整体扫描也可以对受保护部分不扫描)，扫描方式灵活并可以大大缩短检查时间。
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公开(公告)号：CN118094107A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410411049.X
申请日：2024-04-08
申请人： 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G06F18/10 , G01D21/02 , G01B15/02 , G06F18/243
摘要： 本发明提供异常数据检测方法及异常数据诊断器、射线测厚仪，异常数据检测方法包括：实时从X射线测厚装置采集检测数据；对检测数据进行异常检测，发现异常检测数据信息；存储异常检测数据信；输出异常检测数据信息；生成诊断报告，诊断报告包括异常检测的详细结果和故障原因分析。本发明自动地从特征数据中识别异常，提高对异常情况的灵敏度和准确性；不需事先假设数据遵循某种特定分布，在多变的实际应用中更加灵活；通过评估数据点被隔离的容易程度识别异常，更加动态适应各种数据模式变化；实现对X射线测厚装置的实时监控和快速故障诊断，及时发现设备潜在故障，帮助技术人员分析故障原因，优化维护策略，有效提高了设备的可靠性和维护效率。
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公开(公告)号：CN117171516B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311369645.8
申请日：2023-10-23
申请人： 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G06F18/10 , G06F17/18 , G01B15/02 , G06F123/02
摘要： 本发明涉及厚度测量技术领域，提出了一种X射线测厚仪数据优化校正方法，包括：获取所有监测数据的监测数据时间序列；利用经验模态分解算法获取每个环境噪声声波转换的电压值序列的模态分量分解结果；根据所述分解结果中不同模态分量对应频谱图之间的幅值差异获取测量干扰第一特征系数；根据不同环境噪声声波转换的电压值序列的每个模态分量的测量干扰第一特征系数获取测量干扰置信度系数；根据测量干扰置信度系数获取小波分解层数；利用小波去噪算法基于小波分解层数得到干净电流信号；根据干净电流信号得到测厚仪数据的校正结果。本发明通过自适应设置小波去噪算法中的分解层数，纠正测厚仪受到环境噪声干扰造成电流信号的偏差。
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公开(公告)号：CN117168372B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311368926.1
申请日：2023-10-23
申请人： 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G01B15/02
摘要： 本发明涉及厚度检测技术领域，具体涉及一种X射线金属镀层测厚仪，其包括输送装置、检测箱、矫正辊、测量组件和检测单元，在对钢带表面的镀层厚度进行检测时，输送装置将镀层后的钢带朝向预设方向输送，在输送钢带的过程中经过检测腔，检测腔内部的矫正辊将褶皱的钢带进行矫正，检测单元能够检测钢带下方固定点距离钢带下表面的最小距离，即检测单元能够检测到钢带沿长度方向的褶皱，测量组件中的射线仪能够根据检测单元的数据进行改变射线角度，在保证射线仪的射线照射在钢带上的点不发生变化时，射线反弹后的角平分线始终与钢带在照射点上的切线垂直，确保射线反射过程中发生的荧光反射能够进入成像仪中，增加检测的准确性。
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公开(公告)号：CN117113008B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311368854.0
申请日：2023-10-23
申请人： 北京华力兴科技发展有限责任公司
IPC分类号： G06F18/10 , G06F17/18 , G06F18/23 , G01B15/02 , G06F123/02
摘要： 本发明涉及厚度测量技术领域，提出了基于X射线的板厚测量方法，包括：获取测量干扰检测矩阵；基于测量干扰检测矩阵中的行向量得到板厚测量过程中噪声源的估计值；根据声音传感器相较于测厚仪接收器的角度信息以及估计值获取每个行向量的测量噪声影响加权系数；根据测量干扰样本在影响加权坐标系上的投影结果获取测量干扰映射样本；根据所有测量干扰映射样本的聚类结果获取测量干扰系数；根据测量干扰系数得到分解阈值；利用小波去噪算法基于分解阈值得到去噪电流数据序列，根据去噪电流数据序列得到板厚测量结果。本发明通过分析测量过程中干扰噪声叠加对电信号的影响确定小波去噪算法中的分解阈值，提高了板厚测量的准确性。
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公开(公告)号：CN117112989A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311369413.2
申请日：2023-10-23
申请人： 北京华力兴科技发展有限责任公司
摘要： 本发明涉及测量计算技术领域，提出了一种测厚数据滤波优化处理方法，包括：获取X射线测厚参数；根据X射线测厚参数获取每个时刻的测厚数据的随机噪声干扰误差和测厚随机噪声干扰误差序列，根据随机噪声干扰误差获取每个时刻位置处的测厚随机干扰最小影响区间；根据测厚随机干扰最小影响区间计算每个时刻位置处的测厚扰动因子，根据测厚扰动因子计算每个时刻位置处的测厚数据的干扰滤波权重，根据测厚数据的干扰滤波权重获取每个时刻位置处的测厚滤波数据，根据测厚滤波数据获取测厚滤波数据序列对测厚数据滤波优化。本发明有效地降低了X射线测厚过程中干扰噪声影响。
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