公开(公告)号：CN111367070A

公开(公告)日：2020-07-03

申请号：CN202010202362.4

申请日：2020-03-20

Applicant: 清华大学 ,  中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 王辉 ,  刘博武 ,  张政 ,  褚东亚 ,  李永杰 ,  徐旭 ,  叶郎 ,  裴国庆 ,  独伟峰

IPC: G02B26/06 ,  G02F1/35 ,  G02F1/37

Abstract: 一种具有高效倍频性能的大口径激光频率转换系统，包括变形镜及其驱动器、倍频晶体、计算控制处理器、会聚透镜及机壳组件；变形镜、倍频晶体、会聚透镜为同光轴设置，变形镜镜面法线与其入射光方向夹角为45°，倍频晶体镜面法线及会聚透镜的光轴与其入射光方向重合；倍频晶体在实际工作环境下存在面形畸变，平面波入射时会偏离角度相位匹配，降低倍频效率；本发明在工作前通过线下测量，得到倍频晶体的畸变面形和变形镜及其驱动器的响应函数，计算出变形镜驱动器补偿倍频晶体面形畸变及矫正输出光波前所需驱动电压，工作时，控制驱动器加载所计算出的驱动电压，即可达到在实现精准的角度相位匹配、将倍频效率提高的同时，提高输出光准直性的效果。

公开(公告)号：CN115585987A

公开(公告)日：2023-01-10

申请号：CN202211183625.7

申请日：2022-09-27

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 ,  清华大学

Inventor： 王辉 ,  田门吉雅 ,  袁强 ,  刘博武 ,  褚东亚 ,  黄晚晴

IPC: G01M11/02 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明涉及一种透射元件偏振性能检测系统及检测方法，属于光学计量与测量技术领域，检测系统包括同光轴设置的激光光源、偏振起偏器以及光电探测器，所述偏振起偏器与所述光电探测器之间设置有用于夹持透射元件的夹持框架，所述夹持框架位于二维平移台上，本发明通过二维平移台带动夹持框架实现二维移动，利用单点偏振特性测量实现透射元件全口径偏振特性测量，无需进行光束扩束，检测结果更加精准，同时，适用于各种口径各种外形的透射元件的偏振性能检测，尤其适用于大口径透射元件的偏振性能检测。

公开(公告)号：CN117631310A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202311265371.8

申请日：2023-09-27

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 孙喜博 ,  刘博武 ,  谢雨 ,  王文义 ,  刘兰琴 ,  袁强 ,  胡必龙 ,  田门吉雅 ,  褚东亚

IPC: G02B27/28 ,  G02B27/09 ,  G02B27/48 ,  G02B27/00

Abstract: 本发明提供了一种全庞加莱光束偏振匀滑装置及方法，全庞加莱光束偏振匀滑装置包括：透明窗口，透明窗口为长方体结构；透明窗口包括相对设置的两个光学表面和沿周向分布的四个非光学表面；加载组件，加载组件用于对透明窗口的非光学表面施加压力；压力传感器，位于加载元件和接触材料之间，压力传感器用于监测加载元件施加的压力；计算机，与压力传感器连接，用于接收压力传感器的信号；控制器，控制器用于接收计算机的信号，以根据计算机的信号，调节加载元件对压力传感器施加压力的大小。本发明解决了相关技术中调制装置中的晶体元件易损伤的技术问题。

公开(公告)号：CN117289491A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311267363.7

申请日：2023-09-27

Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

Inventor： 王辉 ,  孙喜博 ,  刘博武 ,  谢雨 ,  王文义 ,  谭宁 ,  袁强 ,  褚东亚 ,  杨敏 ,  田门吉雅

IPC: G02F1/01 ,  G02B27/00

Abstract: 本发明提供了一种全庞加莱光束产生装置及方法，包括外框；透明窗口，透明窗口为以预设直线为对称轴的中心对称结构；透明窗口包括光学表面和非光学表面；接触材料，接触材料覆盖在透明窗口的非光学表面上；加载元件，与外框连接，加载元件用于对接触材料施加压力；压力传感器，位于加载元件和接触材料之间，压力传感器用于监测加载元件施加的压力；计算机，与压力传感器连接，用于接收压力传感器的信号；控制器，控制器用于接收计算机的信号，以根据计算机的信号，调节加载元件对压力传感器施加压力的大小。本发明解决了相关技术中调制装置透射损耗高、制造难度大的技术问题。

公开(公告)号：CN114414210A

公开(公告)日：2022-04-29

申请号：CN202111416199.2

申请日：2021-11-25

Applicant: 清华大学

Inventor： 胡东霞 ,  王辉 ,  褚东亚 ,  裴国庆 ,  刘博武 ,  徐旭 ,  叶朗 ,  周海 ,  张朗

IPC: G01M11/02

Abstract: 本公开实施例中提供了一种激光倍频晶体相位匹配方向的快速测量系统及方法，该方法包括：将入射激光束整形为锥形激光束；以所述锥形激光束照射所述激光倍频晶体；获取从所述激光倍频晶体出射的出射激光光斑，其中所述出射激光光斑包含中心条纹；以及基于所述中心条纹距离所述出射激光光斑中心的距离获取所述激光倍频晶体相位匹配方向。通过本公开的处理方案，操作简单，耗时短，且能够准确测量激光倍频晶体的相位匹配方向。

公开(公告)号：CN114414210B

公开(公告)日：2023-03-21

申请号：CN202111416199.2

申请日：2021-11-25

Applicant: 清华大学

Inventor： 胡东霞 ,  王辉 ,  褚东亚 ,  裴国庆 ,  刘博武 ,  徐旭 ,  叶朗 ,  周海 ,  张朗

IPC: G01M11/02

Abstract: 本公开实施例中提供了一种激光倍频晶体相位匹配方向的快速测量系统及方法，该方法包括：将入射激光束整形为锥形激光束；以所述锥形激光束照射所述激光倍频晶体；获取从所述激光倍频晶体出射的出射激光光斑，其中所述出射激光光斑包含中心条纹；以及基于所述中心条纹距离所述出射激光光斑中心的距离获取所述激光倍频晶体相位匹配方向。通过本公开的处理方案，操作简单，耗时短，且能够准确测量激光倍频晶体的相位匹配方向。