公开(公告)号：CN107018398B

公开(公告)日：2018-11-09

申请号：CN201710135853.X

申请日：2017-03-08

Applicant: 清华大学

Inventor： 曹良才 ,  张浩 ,  牛萍娟 ,  孙玉楷 ,  隋晓萌 ,  金国藩

IPC: H04N13/30 ,  H04N17/00

Abstract: 本发明公开了一种用于光场三维显示量化标定的方法，包括：S1：根据现场需求利用可二次开发的三维软件生成多幅标定源图像数据；S2：对多幅源图像数据进行分离排序构成像素序列，并且对像素序列进行抽样重组得到契合分辨率的标定二级图像；S3：上载标定二级图像到二维平面矩阵显示器，使用三维平移台对柱透镜阵列或微透镜进行微调，以达到最佳匹配效果；S4：重复步骤S2至S3，以生成量化二级图像；S5：上载量化二级图像到二维平面矩阵显示器，并使用CCD对效果进行采样，进行数据处理比对，得到量化的结果对光场三维显示效果进行检测。本发明具有如下优点：大幅降低了量化误差、标定结构更加精确。

公开(公告)号：CN107018398A

公开(公告)日：2017-08-04

申请号：CN201710135853.X

申请日：2017-03-08

Applicant: 清华大学

Inventor： 曹良才 ,  张浩 ,  牛萍娟 ,  孙玉楷 ,  隋晓萌 ,  金国藩

IPC: H04N13/00 ,  H04N17/00

CPC classification number: H04N17/00 ,  H04N13/106 ,  H04N2013/0074

Abstract: 本发明公开了一种用于光场三维显示量化标定的方法，包括：S1：根据现场需求利用可二次开发的三维软件生成多幅标定源图像数据；S2：对多幅源图像数据进行分离排序构成像素序列，并且对像素序列进行抽样重组得到契合分辨率的标定二级图像；S3：上载标定二级图像到二维平面矩阵显示器，使用三维平移台对柱透镜阵列或微透镜进行微调，以达到最佳匹配效果；S4：重复步骤S2至S3，以生成量化二级图像；S5：上载量化二级图像到二维平面矩阵显示器，并使用CCD对效果进行采样，进行数据处理比对，得到量化的结果对光场三维显示效果进行检测。本发明具有如下优点：大幅降低了量化误差、标定结构更加精确。