基于点阵扫描的元素成像方法和装置

    公开(公告)号:CN118135177A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311809301.4

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本发明提供一种基于点阵扫描的元素成像方法和装置,所述方法包括:采集样品表面预先划定的元素成像区域内的高空间分辨率光谱;将所述高空间分辨率光谱输入预先训练的映射关系函数,以得到所述映射关系函数输出的特征波长下的高灵敏度光质谱的信号强度;根据所述高灵敏度光质谱的信号强度生成特征波长下目标成像元素的浓度分布结果;其中,所述映射关系函数是基于机器学习模型,利用样本样品表面的元素成像区域采集的高空间分辨率光谱和高灵敏度光质谱进行训练得到的。解决了使用高灵敏度光质谱技术进行元素成像时,时间效率低,空间分辨率不足的技术问题,实现了元素的快速、高空间分辨率成像。

    基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统

    公开(公告)号:CN114062348A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202111386341.3

    申请日:2021-11-22

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供了一种基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统,包括介质阻挡放电模块和激光诱导击穿光谱模块;介质阻挡放电模块包括两个放电器,两个放电器相互靠近的一端均发射等离子体射流,两条等离子体射流对冲后在待测固体样品的表面形成介质阻挡放电等离子体环境;并且,激光诱导击穿光谱模块包括激光器、光纤探头以及光谱仪,激光器发射的激光通过介质阻挡放电等离子体环境后照射在待测固体样品的表面以产生激光等离子体,激光等离子体在介质阻挡放电等离子体环境中产生光子,光子通过光纤探头采集进入光谱仪。本发明提供的基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统可以通过结构的设计改善LIBS的信号重复性,并能够降低击穿阈值。

    基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统

    公开(公告)号:CN114062348B

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202111386341.3

    申请日:2021-11-22

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供了一种基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统,包括介质阻挡放电模块和激光诱导击穿光谱模块;介质阻挡放电模块包括两个放电器,两个放电器相互靠近的一端均发射等离子体射流,两条等离子体射流对冲后在待测固体样品的表面形成介质阻挡放电等离子体环境;并且,激光诱导击穿光谱模块包括激光器、光纤探头以及光谱仪,激光器发射的激光通过介质阻挡放电等离子体环境后照射在待测固体样品的表面以产生激光等离子体,激光等离子体在介质阻挡放电等离子体环境中产生光子,光子通过光纤探头采集进入光谱仪。本发明提供的基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测系统可以通过结构的设计改善LIBS的信号重复性,并能够降低击穿阈值。

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