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公开(公告)号：CN117607241A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311374906.5
申请日：2023-10-23
Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明公开了一种α粒子电离室及降低其中氡及其子体本底的方法，所述α粒子电离室包括一封闭腔体以及设置于所述腔体内的平行电极板，所述平行电极板包括相对设置的收集电极和阴极，所述收集电极和阴极之间充有绝缘气体，其特征在于，所述收集电极和阴极的间距不小于α粒子最大射程的三倍。本发明通过改进电离室的结构以及提供有效甄别α粒子电离室内氡及其子体产生的α粒子本底的方法，可有效降低α粒子电离室内氡及其子体本底，实现了低本底α探测，提高了低表面发射率的探测水平。
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公开(公告)号：CN117367271A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311154696.9
申请日：2023-09-07
Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)
Abstract: 本发明公开一种复杂自由曲面工件智能化测量方法及相关设备，所述方法包括步骤：对待测件进行粗表面结构测量获取待测件的粗轮廓；将待测件的粗轮廓与待测件的数模数据进行坐标统一；根据待测件的粗轮廓定位待测件的待测区域，根据待测区域获取待测点位置列表，根据待测点位置列表生成测量轨迹；沿着测量轨迹依次进行精确测量得到各个待测点的三维坐标；根据各个待测点的三维坐标生成测量报告。可以看出，本发明通过对待测件进行粗表面结构测量，获得待测件的粗轮廓，以对待测件定位得到待测件初值，再对待测件进行精确测量的方式，无需人工手动输入初值，提高了测量自动化程度和测量速度。
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公开(公告)号：CN117553683A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311505694.X
申请日：2023-11-13
Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)
IPC: G01B11/00
Abstract: 本申请涉及一种工件尺寸测量系统和方法。所述工件尺寸测量系统包括检测设备和图像采集设备；其中，所述图像采集设备的内壁上布置有至少一个结构光测头，每一个结构光测头包含至少两个线激光器和一个工业相机；各线激光器均用于向位于所述图像采集设备内的待测工件发射线激光，各工业相机均用于采集所述待测工件的线激光图像；所述检测设备与各工业相机均电连接，用于根据各工业相机发送的线激光图像，确定所述待测工件的尺寸数据。采用本方法能够更加灵活、准确的对待测工件进行尺寸测量。
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