公开(公告)号：CN118190899A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202311258206.X

申请日：2023-09-27

Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心) ,  深圳市笨辉光电科技有限公司

Inventor： 李向召 ,  侯国辉 ,  黄志凡 ,  陈少辉 ,  杜岚 ,  周妮 ,  刘翔

IPC: G01N21/65 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及拉曼表面增强芯片定量测量技术领域，尤其涉及一种拉曼面基芯片增强倍率定量测量装置及测量方法。该装置包括第一光源、测量相机组、微小光斑测量机构和拉曼光谱仪组件，通过第一光源发射光束，经过分光后照射到具有位移功能测量相机组上的样品上，通过测量相机组或微小光斑测量机构测量形成的光斑，采用多种对比测量方式，进行光斑尺寸与有效作用面积对比定量，以及通过其它辅助方式配合定量单位面积内的分子数比对，再根据同等条件下平面芯片表面增强拉曼信号的强度、常规拉曼信号与单位面积分子数进行对比，再综合多个光学与微分散射等参数计算出拉曼表面增强芯片的增益倍率系数，极大的提升了测量结果的精准度。

公开(公告)号：CN109959502A

公开(公告)日：2019-07-02

申请号：CN201910285503.0

申请日：2019-04-10

Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)

Inventor： 侯国辉 ,  李向召 ,  黄志凡 ,  李名兆 ,  杜岚 ,  郑欢欢

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供了一种光斑关键参数的测量装置和测量方法，所述光斑关键参数测量装置包括位移台和位于位移台上的一维线振光学传感器，所述位移台包括X方向位移构件和与光传播方向一致的Z方向位移构件，所述X方向位移构件和Z方向位移构件相连，所述位移台驱动一维线振光学传感器沿X和/或Z方向移动，所述一维线振光学传感器的线振方向垂直于X方向位移构件的移动方向。采用本发明的技术方案，使用线阵光学传感器结合位移台，通过快速线扫描的方式实现对特定位置的大尺寸光斑的测量，可以准确的获得扫描维度方向的光斑中心位置与光斑尺寸，同时不会受限于探测位置光斑尺寸的限制。

公开(公告)号：CN109870775A

公开(公告)日：2019-06-11

申请号：CN201910249445.6

申请日：2019-03-29

Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心)

Inventor： 侯国辉 ,  黄志凡 ,  李向召 ,  李名兆 ,  周永生 ,  郑欢欢

IPC: G02B6/38

Abstract: 本发明提供了一种自由空间光纤耦合系统新架构，其包括底板、光纤夹持与固定结构、位移千分尺、第一反射镜、第二反射镜及耦合透镜，所述第一反射镜、第二反射镜和耦合透镜设置在所述底板上，光束（线）通过所述第一反射镜，进入所述第二反射镜，然后经所述耦合透镜进入光纤端面进行光耦合；所述位移千分尺调节所述光纤夹持与固定结构，从而调节所述光纤夹持与固定结构与所述耦合透镜的相对位置，所述第一反射镜、第二反射镜设有调节丝杆，调节其俯仰倾斜的角度。本发明架构的优点：1、结构简单紧凑；2、原理清晰明了；3、长时间稳定工作；4、结果复现性较强。