公开(公告)号：CN118190899A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202311258206.X

申请日：2023-09-27

Applicant: 深圳市计量质量检测研究院(国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心) ,  深圳市笨辉光电科技有限公司

Inventor： 李向召 ,  侯国辉 ,  黄志凡 ,  陈少辉 ,  杜岚 ,  周妮 ,  刘翔

IPC: G01N21/65 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明涉及拉曼表面增强芯片定量测量技术领域，尤其涉及一种拉曼面基芯片增强倍率定量测量装置及测量方法。该装置包括第一光源、测量相机组、微小光斑测量机构和拉曼光谱仪组件，通过第一光源发射光束，经过分光后照射到具有位移功能测量相机组上的样品上，通过测量相机组或微小光斑测量机构测量形成的光斑，采用多种对比测量方式，进行光斑尺寸与有效作用面积对比定量，以及通过其它辅助方式配合定量单位面积内的分子数比对，再根据同等条件下平面芯片表面增强拉曼信号的强度、常规拉曼信号与单位面积分子数进行对比，再综合多个光学与微分散射等参数计算出拉曼表面增强芯片的增益倍率系数，极大的提升了测量结果的精准度。