一种智能压力控制的浆料成型设备

    公开(公告)号:CN115194916B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202210949653.9

    申请日:2022-08-09

    发明人: 潘付强

    摘要: 本发明属于生产制造技术领域,尤其涉及一种智能压力控制的浆料成型设备,所述智能压力控制的浆料成型设备包括机架以及设置于机架上的储料罐、定位装置、搅拌装置以及压力控制装置;所述机架顶部设置为操作台,所述定位装置设置于操作台上,用于模具的固定;所述储料罐设置于所述机架的底部,储料罐的顶部位于所述操作台的底面,所述操作台上设置于出料孔,所述出料孔与储料罐内部连通,所述储料罐用于浆料的存储;所述搅拌装置用于储料罐内浆料的搅拌以防止浆料沉积;所述压力控制装置用于控制储料罐内的压力,使浆料以稳定的压力输出。本发明提供的方案通过设置压力控制装置可以稳定输出压力,提高产品均一性。

    为微孔玻璃进行热转印覆电阻膜的覆膜方法及电阻膜

    公开(公告)号:CN118219688A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410417006.2

    申请日:2024-04-08

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明提供了为微孔玻璃进行热转印覆电阻膜的覆膜方法及电阻膜。该为微孔玻璃进行热转印覆电阻膜的覆膜方法包括以下步骤;S1、微孔玻璃表面预处理,将需要进行热转印覆电阻膜的微孔玻璃进行表面预处理;S2、涂布;S3、印刷层制备,在所述离型层上覆盖印刷层;S4、热转印花膜制备;S5、电阻膜图案印刷;S6、油墨层制备,将油墨均匀地涂布在所述电阻膜上,并干燥,以形成油墨层;S7、膜层预热;S8、图案覆膜;S9、成品冷却,其中,本发明通过各个步骤的相互配合实现了将印有电路的电阻膜直接热转印至微孔玻璃表面上,从而保证了微孔玻璃表面电路导电时的精准性,静而确保了微孔玻璃工作时精准控温。

    冰裂釉键帽的制备工艺及应用该工艺制备的键帽

    公开(公告)号:CN117185840B

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311225068.5

    申请日:2023-09-21

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明提供了冰裂釉键帽的制备工艺及应用该工艺制备的键帽。该冰裂釉键帽的制备工艺包括以下步骤:S1、配制冰裂釉;S2、键帽主体制备;S3、冰裂釉釉水调配;S4、键帽主体预加热;S5、键帽主体第一次喷釉;S6、键帽主体二次加热;S7、键帽主体第二次喷釉;S8、键帽主体烧结;S9、降温冷却;S10、施加颜色釉;S11、二次煅烧,其中,本发明的冰裂釉键帽的制备工艺通过各个步骤的相互配合使得能够对陶瓷材质的键帽主体外表面完成冰裂釉的附着,从而能够提高键帽主体整体的美观性,同时,烧制出的键帽主体釉色均匀,光泽度高,冰裂纹的效果好。

    一种键帽位置检测方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN117232384B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202310849774.0

    申请日:2023-07-12

    发明人: 刘桂明 潘付强

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本申请属于机械制造领域,尤其涉及一种键帽位置检测方法、装置和系统,方法包括调整温度调节皿的皿内温度至第一温度;调动红外光谱仪对温度调节皿中的待测键盘本体进行扫描,以获取键帽膜在第一温度下的第一红外光谱图;将第一红外光谱图与预设的标准红外光谱图进行比对,以确定待测键帽的位置是否与键帽的标准位置吻合。在本发明中,通过获取待测键帽的红外图谱,并将获取的红外图谱与键帽处于标准位置时的红外图谱进行对比,能够直观的看出键帽在水平方向的位置是否与标准位置形成偏差,检测的效率和准确性高。

    一种高效率均匀加热陶瓷芯烧结炉

    公开(公告)号:CN115540603B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202211222584.8

    申请日:2022-10-08

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明提供了一种高效率均匀加热陶瓷芯烧结炉。该种高效率均匀加热陶瓷芯烤箱包括:保护外壳、送气加热机构、旋转烘烤机构、匀热排气机构、触发机构和电控箱;保护外壳上设有柜门;送气加热机构用于将通入气体,并且对气体进行加热处理;旋转烘烤机构包括烘烤箱,烘烤箱上开凿有通气槽,烘烤箱内安装有旋转支撑盘,旋转支撑盘与通气槽相连通设置,旋转支撑盘的一侧设有旋转驱动组件;匀热排气机构包括第二传动支撑轴,第二传动支撑轴上安装有排气扇,用于引导气体排出。本发明通过对烘烤箱相应机构的设置,使烘烤箱内部温度均匀,并且使高温气体能够均匀喷洒在陶瓷芯上,从而使陶瓷芯受热均匀,也避免了陶瓷芯的损毁,为使用者减少损失。

    冰裂釉键帽的制备工艺及应用该工艺制备的键帽

    公开(公告)号:CN117185840A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311225068.5

    申请日:2023-09-21

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明提供了冰裂釉键帽的制备工艺及应用该工艺制备的键帽。该冰裂釉键帽的制备工艺包括以下步骤:S1、配制冰裂釉;S2、键帽主体制备;S3、冰裂釉釉水调配;S4、键帽主体预加热;S5、键帽主体第一次喷釉;S6、键帽主体二次加热;S7、键帽主体第二次喷釉;S8、键帽主体烧结;S9、降温冷却;S10、施加颜色釉;S11、二次煅烧,其中,本发明的冰裂釉键帽的制备工艺通过各个步骤的相互配合使得能够对陶瓷材质的键帽主体外表面完成冰裂釉的附着,从而能够提高键帽主体整体的美观性,同时,烧制出的键帽主体釉色均匀,光泽度高,冰裂纹的效果好。

    一种雾化结构及烟油雾化器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116831321A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310970775.0

    申请日:2023-08-03

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明公开了一种雾化结构,包括雾化组件,雾化组件包括上支架、下支架和发热件,上支架和下支架均为板状结构且为多孔陶瓷结构,发热件包括导电结构和发热结构,导电结构与发热结构固定连接,发热结构设置在上支架和下支架之间,导电结构设置在上支架和下支架外,上支架上开设有上通孔,下支架上开设有下通孔,上通孔和下通孔向连通且同轴设置,发热结构的一部分裸露在上通孔和下通孔内。解决了由于渗入陶瓷棒内部的烟油雾化不充分,使烟油在陶瓷棒的孔隙内堆积而堵塞孔隙,从而降低陶瓷棒的导油效果,影响陶瓷棒雾化发热组件雾化效果的问题。

    一种微孔石英配方及其制备方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117819876A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410012218.2

    申请日:2024-01-04

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明涉及微孔石英技术领域,且公开了一种微孔石英配方及其制备方法,包括以下重量组分:改性膨润土10‑20份、高岭土10‑15份、粘结剂6‑8份、氟硅酸钠10‑12份、石英粉20‑25份SiO260‑80份、Al2O31‑3份、TiO22‑4份、BaO1‑2份、MnO0.2‑0.4份、MgO1.2‑2.5份、K2O0.5‑1.5份;微孔石英配方的制备方法为:按配比将各原料搅拌混合,在110‑120℃下搅拌3‑5h,得到熔融状态下的初料,然后将熔融状态下的初料加入到微孔石英模型中,即可;具有较好的阻燃、耐磨、抗菌的效果。

    一种提升雾化效果的防烧芯雾化器以及电子烟

    公开(公告)号:CN115251476A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202211076365.3

    申请日:2022-09-05

    发明人: 刘桂明 潘付强

    摘要: 本发明属于电子烟技术领域,尤其涉及一种提升雾化效果的防烧芯雾化器以及电子烟,包括极网、陶瓷固定环以及棉芯;极网形成柱状加热网,极网包括两电极以及连接于两电极之间的网状电热板,网状电热板由若干电阻片并排构成,网状电热板上形成若干规律排布的窗口;所述陶瓷固定环包括上环以及下环,所述上环与极网的上边缘连接,所述下环与极网的下边缘连接;所述棉芯贴附在所述极网上。本发明通过设置网状结构的极网,使棉芯与极网接触的同时保留足够的间隙,兼顾了加热雾化以及烟油发散的问题,利用极网分散热量,有效避免烧芯。

    一种键帽位置检测方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN117232384A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202310849774.0

    申请日:2023-07-12

    发明人: 刘桂明 潘付强

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本申请属于机械制造领域,尤其涉及一种键帽位置检测方法、装置和系统,方法包括调整温度调节皿的皿内温度至第一温度;调动红外光谱仪对温度调节皿中的待测键盘本体进行扫描,以获取键帽膜在第一温度下的第一红外光谱图;将第一红外光谱图与预设的标准红外光谱图进行比对,以确定待测键帽的位置是否与键帽的标准位置吻合。在本发明中,通过获取待测键帽的红外图谱,并将获取的红外图谱与键帽处于标准位置时的红外图谱进行对比,能够直观的看出键帽在水平方向的位置是否与标准位置形成偏差,检测的效率和准确性高。