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公开(公告)号：CN111902761A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201980021841.1
申请日：2019-01-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 山本谕
Abstract: 试样观察装置(1)包括：用于在XZ面上对试样S照射平面光L2的照射光学系统(3)；以通过平面光L2的照射面R的方式在Y轴方向上扫描试样S的扫描部(4)；具有相对于照射面R倾斜的观察轴P2、使在试样S上产生的观察光L3成像的成像光学系统(5)；用于获取多个与观察光L3的光学图像对应的XZ图像数据(31)的图像获取部(6)；和基于多个XZ图像数据(31)，生成XY图像数据(32)的图像生成部(8)，图像生成部(8)提取关于Y轴方向获取的多个XZ图像数据(31)中的解析区域，至少在Z轴方向上累计解析区域F的亮度值，生成X图像数据(33)，在Y轴方向上组合X图像数据(33)以生成XY图像数据(32)。
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公开(公告)号：CN110869747A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201880045896.1
申请日：2018-04-18
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 试样观察装置(1)包括：向试样(S)照射面状光(L2)的照射部(11)；相对于面状光(L2)的照射面R在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(12)；将来自试样(S)的荧光(J1)和散射光(J2)分别成像的成像部(17)；输出基于荧光(J1)的光像的第一图像数据(G1)和基于散射光(J2)的光像的第二图像数据(G2)的拍摄部(13)；基于多个第一图像数据(G1)生成荧光图像(F1)且基于多个第二图像数据(G2)生成散射光图像(F2)的图像处理部(32)；和基于散射光图像(F2)确定荧光图像(F1)中的试样(S)的存在区域(N4)，基于试样S的存在区域(N4)设定荧光图像(F1)中的解析区域(N5)的解析部(33)。
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公开(公告)号：CN110869748B
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN201880045909.5
申请日：2018-04-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01N21/64
Abstract: 试样观察装置(1)包括：拍摄因透过膜过滤器(6)的面状光(L2)的照射而产生的观察光(L3)，输出荧光图像数据(G)的拍摄部(13)；在荧光图像数据(G)中确定与第一试样保持空间(V1)对应的第一区域(K1)和与第二试样保持空间(V2)对应的第二区域(K2)，生成与第一区域(K1)对应的第一部分图像数据(E1)和与第二区域(K2)对应的第二部分图像数据(E2)的部分图像生成部；基于这些部分图像数据生成第一观察图像数据(J1)和第二部分图像数据(E2)的观察图像生成部(33)；和基于第一观察图像数据(J1)和第二观察图像数据(J2)进行试样(S)的解析的解析部(34)。
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公开(公告)号：CN110892251B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN201880045897.6
申请日：2018-04-16
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01N21/64
Abstract: 试样观察装置(1)包括：保持被第一荧光物质染色的试样(S)和包含第二荧光物质的溶液(W)的试样容器(2)；照射第一激发光(L1)和第二激发光(L2)的照射部(11)；在一个方向上扫描试样容器(2)的扫描部(12)；将来自试样(S)的第一荧光(J1)和来自溶液(W)的第二荧光(J2)成像的成像部(17)；输出基于第一荧光(J1)的第一图像数据(G1)和基于第二荧光(J2)的第二图像数据(G2)的拍摄部(13)；生成基于多个第一图像数据(G1)的第一荧光图像(F1)和基于多个第二图像数据(G2)的第二荧光图像(F2)的图像处理部(32)；和基于第二荧光图像(F2)确定试样(S)的存在区域(N4)，设定第一荧光图像(F1)中的解析区域(N5)的解析部(33)。
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公开(公告)号：CN110869747B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN201880045896.1
申请日：2018-04-18
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 试样观察装置(1)包括：向试样(S)照射面状光(L2)的照射部(11)；相对于面状光(L2)的照射面R在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(12)；将来自试样(S)的荧光(J1)和散射光(J2)分别成像的成像部(17)；输出基于荧光(J1)的光像的第一图像数据(G1)和基于散射光(J2)的光像的第二图像数据(G2)的拍摄部(13)；基于多个第一图像数据(G1)生成荧光图像(F1)且基于多个第二图像数据(G2)生成散射光图像(F2)的图像处理部(32)；和基于散射光图像(F2)确定荧光图像(F1)中的试样(S)的存在区域(N4)，基于试样S的存在区域(N4)设定荧光图像(F1)中的解析区域(N5)的解析部(33)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111902711B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN201980021112.6
申请日：2019-01-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 山本谕
Abstract: 本发明的试样观察装置(1)中，在设照射光学系统(3)的光轴P1与扫描面K的法线P3所成的角度为θ1、成像光学系统(5)的光轴P2与扫描面K的法线P3所成的角度为θ2时，θ1、θ2均为80°以下，且θ1+θ2为100°以上，在图像获取部(6)中，相对于第n个像素的第m帧的图像获取区域Fn，m，第n+1个像素的第m+1帧的图像获取区域Fn+1，m+1在试样S的扫描方向上根据在一帧的曝光时间内试样S的扫描量V而偏移。
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公开(公告)号：CN111971607B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN201980023169.X
申请日：2019-01-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 试样观察装置(1)包括：对试样(S)照射面状光(L2)的照射光学系统(3)；以通过面状光(L2)的照射面(R)的方式在一个方向上扫描试样(S)的扫描部(4)；具有相对于照射面(R)倾斜的观察轴(P2)且使通过面状光(L2)的照射而在试样(S)产生的观察光(L3)成像的成像光学系统(5)；取得与由成像光学系统(5)成像的观察光(L3)的光学图像对应的图像数据(31)的图像取得部(6)；和基于由图像取得部(6)取得的图像数据(31)，生成试样(S)的观察图像数据(32)的图像生成部(8)，成像光学系统(5)具有将观察光(L3)的一个轴的光线(L3a)弯曲而不将与该一个轴正交的另一个轴的光线(L3b)弯曲的非轴对称的光学元件。
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公开(公告)号：CN111902761B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN201980021841.1
申请日：2019-01-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 山本谕
Abstract: 试样观察装置(1)包括：用于在XZ面上对试样S照射平面光L2的照射光学系统(3)；以通过平面光L2的照射面R的方式在Y轴方向上扫描试样S的扫描部(4)；具有相对于照射面R倾斜的观察轴P2、使在试样S上产生的观察光L3成像的成像光学系统(5)；用于获取多个与观察光L3的光学图像对应的XZ图像数据(31)的图像获取部(6)；和基于多个XZ图像数据(31)，生成XY图像数据(32)的图像生成部(8)，图像生成部(8)提取关于Y轴方向获取的多个XZ图像数据(31)中的解析区域，至少在Z轴方向上累计解析区域F的亮度值，生成X图像数据(33)，在Y轴方向上组合X图像数据(33)以生成XY图像数据(32)。
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公开(公告)号：CN111902711A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201980021112.6
申请日：2019-01-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 山本谕
Abstract: 本发明的试样观察装置(1)中，在设照射光学系统(3)的光轴P1与扫描面K的法线P3所成的角度为θ1、成像光学系统(5)的光轴P2与扫描面K的法线P3所成的角度为θ2时，θ1、θ2均为80°以下，且θ1+θ2为100°以上，在图像获取部(6)中，相对于第n个像素的第m帧的图像获取区域Fn，m，第n+1个像素的第m+1帧的图像获取区域Fn+1，m+1在试样S的扫描方向上根据在一帧的曝光时间内试样S的扫描量V而偏移。
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公开(公告)号：CN110945403A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201880048132.8
申请日：2018-05-30
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 试样观察装置(1)包括：流动池(2)，其中流动含有试样(S)的流体；照射部(11)，其向流动池(2)内流动的试样(S)照射面状光(L2)；成像部(17)，其具有相对于面状光(L2)的照射面(R)倾斜的观察轴(P2)，使通过面状光(L2)的照射而在试样(S)产生的观察光(L3)成像；二维拍摄元件(20)，其拍摄由成像部(17)成像的观察光(L3)的光像中的至少包含流体的截面的光像，并输出图像数据；和解析部(33)，其基于图像数据，解析在流体的流动方向上的试样(S)的光强度分布。
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