USB表面缺陷检测的阈值分割方法

    公开(公告)号:CN111754538A

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN202010612002.1

    申请日:2020-06-29

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种USB表面缺陷检测的阈值分割方法,设置初始阈值和前景及背景的更新值,按照初始阈值将图像按像素灰度值分为前景和背景,引入上一次循环中的前景和背景的平均值计算更新阈值,当更新阈值与初始阈值相等时以该阈值对图像进行二值化。图像分割后的USB边缘区域和变形区域分离,提高了对USB区域识别的准确度。图像分割后的USB边缘区域和变形区域分离,提高了对USB区域识别的准确度。

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