-
公开(公告)号：CN106691394B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN201710086522.1
申请日：2017-02-17
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于光程编码的高分辨长焦深OCT成像系统和方法。本发明首先利用光程编码器把光源输出光束编码成多个光程不同的光束，这些光束被光学系统聚焦在样品的不同深度用于OCT成像；然后提取OCT图像中被每个光束焦深范围内的光照射所得的样品图像并拼接，即可得到大深度范围内高分辨率的样品图像。由于光程编码会损失部分成像量程，因此在探测臂上使用具有超高光谱分辨率的正交色散光谱仪进行探测，光谱仪所得干涉光谱信号最终传入计算机，在计算机上实现样品高分辨长焦深图像的快速重建。本发明利用正交色散光谱仪超长的测量量程区分不同编码光程下、聚焦在不同深度的光束所得到的样品信息，可以大幅提高焦深。
-
公开(公告)号：CN105044066A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510482335.6
申请日：2015-08-07
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种于宽带受激辐射的纳米OCT成像方法及系统。本发明利用受激辐射而非自发辐射使处于激发态的色团快速回到基态，并采用宽带探测光源实现受激辐射荧光信号的相干探测。轴向与横向分辨率的提高则分别通过宽带光源技术和受激辐射损耗技术来实现。采用超宽带光源作为探测光源，可实现亚微米至百纳米级的轴向分辨率。采用基于受激辐射损耗的点扩散函数调控技术，可以实现纳米级的横向分辨率。鉴于受激辐射过程大大短于自发辐射过程，本发明的成像方法较之于传统的荧光成像，成像速度可以极大提高。本发明不仅实现了OCT成像的纳米分辨率，而且拓展了OCT的荧光成像功能，并为非荧光色团的光学成像提供了方法。
-
公开(公告)号：CN104964982B
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201510382731.1
申请日：2015-06-30
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别方法及系统。在OCT系统中，使用线聚焦光照明和并行探测，利用OCT成像获得的复解析信号，分析玻璃界面处沿深度方向的复解析信号与标准单一反射界面所产生的复解析信号的差异大小来划定玻璃表面缺陷核心的边界，利用OCT成像获得的玻璃表面的复解析反射信号的相位重构高精度的玻璃表面形貌图，通过比对玻璃表面缺陷核心边界图与玻璃表面形貌图，实现真缺陷和伪缺陷的识别。本发明可以实现高分辨率、高准确率的真伪缺陷识别，可以在有尘生产环境中实时检测玻璃缺陷而不会因灰尘的干扰造成误判。
-
公开(公告)号：CN104964982A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201510382731.1
申请日：2015-06-30
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别方法及系统。在OCT系统中，使用线聚焦光照明和并行探测，利用OCT成像获得的复解析信号，分析玻璃界面处沿深度方向的复解析信号与标准单一反射界面所产生的复解析信号的差异大小来划定玻璃表面缺陷核心的边界，利用OCT成像获得的玻璃表面的复解析反射信号的相位重构高精度的玻璃表面形貌图，通过比对玻璃表面缺陷核心边界图与玻璃表面形貌图，实现真缺陷和伪缺陷的识别。本发明可以实现高分辨率、高准确率的真伪缺陷识别，可以在有尘生产环境中实时检测玻璃缺陷而不会因灰尘的干扰造成误判。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105044066B
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201510482335.6
申请日：2015-08-07
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于宽带受激辐射的纳米OCT成像方法及系统。本发明利用受激辐射而非自发辐射使处于激发态的色团快速回到基态，并采用宽带探测光源实现受激辐射荧光信号的相干探测。轴向与横向分辨率的提高则分别通过宽带光源技术和受激辐射损耗技术来实现。采用超宽带光源作为探测光源，可实现亚微米至百纳米级的轴向分辨率。采用基于受激辐射损耗的点扩散函数调控技术，可以实现纳米级的横向分辨率。鉴于受激辐射过程大大短于自发辐射过程，本发明的成像方法较之于传统的荧光成像，成像速度可以极大提高。本发明不仅实现了OCT成像的纳米分辨率，而且拓展了OCT的荧光成像功能，并为非荧光色团的光学成像提供了方法。
-
公开(公告)号：CN106691394A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201710086522.1
申请日：2017-02-17
Applicant: 浙江大学
CPC classification number: A61B5/0066 , G01N21/01 , G02B27/0075
Abstract: 本发明公开了一种基于光程编码的高分辨长焦深OCT成像系统和方法。本发明首先利用光程编码器把光源输出光束编码成多个光程不同的光束，这些光束被光学系统聚焦在样品的不同深度用于OCT成像；然后提取OCT图像中被每个光束焦深范围内的光照射所得的样品图像并拼接，即可得到大深度范围内高分辨率的样品图像。由于光程编码会损失部分成像量程，因此在探测臂上使用具有超高光谱分辨率的正交色散光谱仪进行探测，光谱仪所得干涉光谱信号最终传入计算机，在计算机上实现样品高分辨长焦深图像的快速重建。本发明利用正交色散光谱仪超长的测量量程区分不同编码光程下、聚焦在不同深度的光束所得到的样品信息，可以大幅提高焦深。
-
公开(公告)号：CN204832040U
公开(公告)日：2015-12-02
申请号：CN201520594248.5
申请日：2015-08-07
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本实用新型一种基于宽带受激辐射的纳米OCT成像系统，包括时序控制器、激发光源、损耗光源、光束调制模块、探测光源、平面反射镜、信号采集和处理模块和样品臂；样品臂包括二维扫描振镜和显微物镜；本实用新型采用超宽带光源作为探测光源，可实现亚微米至百纳米级的轴向分辨率，本实用新型不仅实现了OCT成像的纳米分辨率，而且拓展了OCT的荧光成像功能，并为非荧光色团的光学成像提供了方法。
-
公开(公告)号：CN207071084U
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201720144660.6
申请日：2017-02-17
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本实用新型公开了一种基于光程编码的高分辨长焦深OCT成像系统。本实用新型首先利用光程编码器把光源输出光束编码成多个光程不同的光束，这些光束被光学系统聚焦在样品的不同深度用于OCT成像；然后提取OCT图像中被每个光束焦深范围内的光照射所得的样品图像并拼接，即可得到大深度范围内高分辨率的样品图像。由于光程编码会损失部分成像量程，因此在探测臂上使用具有超高光谱分辨率的正交色散光谱仪进行探测，光谱仪所得干涉光谱信号最终传入计算机，在计算机上实现样品高分辨长焦深图像的快速重建。本实用新型利用正交色散光谱仪超长的测量量程区分不同编码光程下、聚焦在不同深度的光束所得到的样品信息，可以大幅提高焦深。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN204882405U
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201520464792.8
申请日：2015-06-30
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/958
Abstract: 本实用新型公开了一种基于OCT复信号的玻璃表面真伪缺陷识别系统。在OCT系统中，使用线聚焦光照明和并行探测，利用OCT成像获得的复解析信号，分析玻璃界面处沿深度方向的复解析信号与标准单一反射界面所产生的复解析信号的差异大小来划定玻璃表面缺陷核心的边界，利用OCT成像获得的玻璃表面的复解析反射信号的相位重构高精度的玻璃表面形貌图，通过比对玻璃表面缺陷核心边界图与玻璃表面形貌图，实现真缺陷和伪缺陷的识别。本实用新型可以实现高分辨率、高准确率的真伪缺陷识别，可以在有尘生产环境中实时检测玻璃缺陷而不会因灰尘的干扰造成误判。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9
records
(took 0.014 seconds)
