公开(公告)号：CN104330104B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410603812.5

申请日：2014-10-31

Applicant: 浙江大学

Inventor： 吕武略 ,  金晓峰 ,  章献民 ,  郑史烈 ,  池灏

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种干涉型传感器臂长差的测量装置，包括宽谱光源、马赫增德尔强度调制器、微波扫频源、功分器、直流稳压电源、高速光电探测器、射频放大器、移相器、混频器、低通滤波器、AD采样器和测量处理器。本发明测量装置打破了在纯光域上测量的思维模式，引入了微波信号，在不破坏传感器的情况下，利用其原有的光路结构将臂长差信号调制到光载微波的相位上，通过解调微波的相位，达到测量臂长差的目的；其主要的优势是成本低，测量范围大，精度高，实现成本低，不需要专用的仪器支持，另外能完成全自动测量，速度快且不需要人工调节，只需要将被测传感器接上测量设备就可以输出测量结果。

公开(公告)号：CN104330104A

公开(公告)日：2015-02-04

申请号：CN201410603812.5

申请日：2014-10-31

Applicant: 浙江大学

Inventor： 吕武略 ,  金晓峰 ,  章献民 ,  郑史烈 ,  池灏

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明公开了一种干涉型传感器臂长差的测量装置，包括宽谱光源、马赫增德尔强度调制器、微波扫频源、功分器、直流稳压电源、高速光电探测器、射频放大器、移相器、混频器、低通滤波器、AD采样器和测量处理器。本发明测量装置打破了在纯光域上测量的思维模式，引入了微波信号，在不破坏传感器的情况下，利用其原有的光路结构将臂长差信号调制到光载微波的相位上，通过解调微波的相位，达到测量臂长差的目的；其主要的优势是成本低，测量范围大，精度高，实现成本低，不需要专用的仪器支持，另外能完成全自动测量，速度快且不需要人工调节，只需要将被测传感器接上测量设备就可以输出测量结果。