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公开(公告)号：CN111381385B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202010218688.6
申请日：2020-03-25
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种可连续调节涡旋光束旋转的装置，括激光器、4f光束准直系统（包含第一透镜、小孔、第二透镜）、格兰棱镜、四分之一波片和相位板；激光器发出的光束依次经过所述4f准直系统、格兰棱镜、四分之一波片和所述相位板；小孔移动设置于第一透镜和第二透镜之间；第一透镜和第二透镜的焦距均为f，第一透镜和第二透镜之间的间距为2f，物距为f。相位板产生离轴涡旋光束，CCD相机用于观察涡旋光束光斑的旋转。该装置结构简单、成本低，且操作便捷。还公开了一种可连续调节涡旋光束旋转的方法，通过调节4f系统中小孔的位置，能够调节涡旋光束旋转，且这种旋转连续可调。
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公开(公告)号：CN107032298A
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201710235478.6
申请日：2017-04-12
Applicant: 河海大学常州校区
CPC classification number: B81C1/00206 , B81C1/00349 , B81C3/001 , B82Y20/00 , B82Y40/00
Abstract: 本发明提供一种基于超高阶导模制备圆环状纳米颗粒微结构的方法，包括以下步骤：步骤一，制备波导结构样品；步骤二，将步骤一制备的波导结构样品固定在θ /2θ 转角仪的转台上，选用激光器作为激发光源，进行光路‑波导结构样品校准；步骤三，转动转台，改变激光束打到波导结构样品上的入射角，同时记录反射光强度，并绘制反射光强度‑入射角度曲线图，在曲线图上找出最佳点；步骤四，调节转台，使激光束的入射角为最佳点的入射角，保持其他条件不变，向波导结构样品中注入溶剂，待溶剂完全挥发即可得到呈圆环状分布的纳米颗粒。另外本发明还提供一种基于超高阶导模制备圆环状纳米颗粒微结构的装置。
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公开(公告)号：CN106644941A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201710015493.X
申请日：2017-01-10
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种波导导模，带前端金属层和后端金属层的玻璃空腔底部设有出液口，前端金属层和后端金属层相互平行，玻璃空腔内容纳带颗粒的溶液。利用波导导模共振颗粒形成阵列的装置和方法，包括由依次串联的激光器、小孔光阑、偏振片、小孔光阑组成的光源装置，由电脑和光电二极管串联组成的光信号接收装置，和设置在由电机驱动的角度旋转台上的波导导模。光源装置将一定波长的入射光以一定入射角照射波导导模，反射光由光电二极管接收，通过电脑监控光的反射率。通过光镊效应，使得玻璃空腔的内侧壁上留下周期性分布的颗粒。运用这种方法实现并调制颗粒的简单微结构。本方法成本低，设计简单，可以运用在微加工、生化传感检测等领域。
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公开(公告)号：CN108802005B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201810568902.3
申请日：2018-06-05
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开基于粒子‑波导耦合结构的拉曼散射增强基底，包括玻璃底片、银膜、PMMA溶液层、金属纳米棒，所述银膜设置于所述玻璃底片的上方，所述PMMA溶液层与所述金属纳米棒设置于所述银膜的上方。本发明还公开基于粒子‑波导耦合结构的拉曼散射增强基底的制备方法，包括如下步骤：制作粒子‑波导耦合结构；激光拉曼光谱仪的激光器输出的激光束照射到粒子‑波导耦合结构上；设置测试参数；调整粒子‑波导耦合结构的待测区域，等待激光拉曼光谱仪测量相关信号。本发明的拉曼增强的机理不同于一般的表面拉曼增强技术，而是采用金属纳米粒子的局域场与波导结构的导模场相互之间的共振效应来实现增强，本发明提出的增强效应的存在的与实验结果相吻合。
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公开(公告)号：CN111579100B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202010458192.6
申请日：2020-05-26
Applicant: 河海大学常州校区
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种可视化M‑线法检测拓扑荷数的装置，包括依次设置的波导、CCD和电脑，待测涡旋光束依次经过波导后形成反射光光斑的M‑线被CCD接收到，电脑与CCD连接，用以在线检测M‑线的数量以测试待测涡旋光束的拓扑荷数。一种可视化M‑线法检测拓扑荷数的方法，包括以下步骤：待测涡旋光束照射至波导表面；涡旋光束被激发并耦合进波导表面内，涡旋光束从波导的另一侧反射出；从波导中反射出的涡旋光束形成反射光斑的M‑线进入CCD；根据M‑线的数量得出拓扑荷数的数量。本发明的检测方法利用成熟的波导加工工艺，操作简单，检测结果准确度高，可以对多种不同的涡旋光束进行测量，通用性强，通过观察M‑线就可以定量测量拓扑荷数，检测效果更为直观。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111041447A
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201911393197.9
申请日：2019-12-30
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种金属微结构的制备方法，采用负电压放电生成的低温等离子体对金属膜进行放电处理，使得金属膜表面产生规则的形貌。其利用等离子体内部粒子具有的较高能量和含有的紫外、高能电子和自由基等活性成分，作用于金属膜表面产生一系列的物理和化学过程，在金属膜的表面产生侵蚀，进而改变金属膜表面形貌，使其表面出现均匀的点状结构。本发明的方法具有设备简单、操作方便、成本低廉、生产效率高、尤其对环境污染少等优点，且在相同的放电条件下，通过改变放电时间和金属膜的厚度，可调节表面膜结构，可以广泛应用于机械、电子、化学能、原子能、医药卫生、生物等领域，具有很强的实用性和广泛的适用性。
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公开(公告)号：CN107340239B
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201710519525.X
申请日：2017-06-30
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种基于金纳米棒胶体的光流体芯片光场偏振分布的检测方法，其特征是，包括如下步骤：1)制备金胶以及金纳米棒，准备光流体芯片，搭建测试平台；2)选择合适的激光波长、入射角度以及偏振方式，选用激光作为光源；从激光器输出的激光束入射到样品上，激光器工作波长在可见光和红外光范围内选择；3)固定白光偏振，改变用于俘获纳米棒的激光偏振方向，即变化激光偏振方向与白光偏振方向之间夹角；4)保持激光方向不变，等待溶液蒸发，打开光流体芯片，测SEM图像。本发明所达到的有益效果：本发明适用于光流体芯片偏振特性检测，仪器小型化操作简便，设计简单，操作方便，现象明显，耗时少，验证性强，能实现精确测量。
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公开(公告)号：CN108802005A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810568902.3
申请日：2018-06-05
Applicant: 河海大学常州校区
CPC classification number: G01N21/658 , C23C14/18 , C23C14/24
Abstract: 本发明公开基于粒子‑波导耦合结构的拉曼散射增强基底，包括玻璃底片、银膜、PMMA溶液层、金属纳米棒，所述银膜设置于所述玻璃底片的上方，所述PMMA溶液层与所述金属纳米棒设置于所述银膜的上方。本发明还公开基于粒子‑波导耦合结构的拉曼散射增强基底的制备方法，包括如下步骤：制作粒子‑波导耦合结构；激光拉曼光谱仪的激光器输出的激光束照射到粒子‑波导耦合结构上；设置测试参数；调整粒子‑波导耦合结构的待测区域，等待激光拉曼光谱仪测量相关信号。本发明的拉曼增强的机理不同于一般的表面拉曼增强技术，而是采用金属纳米粒子的局域场与波导结构的导模场相互之间的共振效应来实现增强，本发明提出的增强效应的存在的与实验结果相吻合。
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公开(公告)号：CN107843956A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201711102907.9
申请日：2017-11-10
Applicant: 河海大学常州校区
Abstract: 本发明公开了一种基于压电金属包覆光波导的电-光N倍频信号发生器，包括激光器、转台、压电金属包覆光波导、光电二极管、用于处理反射光的计算机、光电探测器、示波器、放大电路、整形电路、电信号发生器；压电金属包覆光波导固定在转台上，激光器发射激光束射入压电金属包覆光波导上，由波导结构反射出来的反射光通过光电二极管发送给计算机；电信号发生器产生随机的脉冲序列，整形电路将脉冲序列信号整形后得到所需要的形状的信号，并发送给放大电路，放大电路输出的信号加载到压电金属包覆光波导两端；光电探测器将探测到的反射光发送给示波器，示波器用于显示电-光N倍频信号。具有体积小，功耗低，输入频率可调等特点。
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公开(公告)号：CN111579100A
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN202010458192.6
申请日：2020-05-26
Applicant: 河海大学常州校区
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种可视化M-线法检测拓扑荷数的装置，包括依次设置的波导、CCD和电脑，待测涡旋光束依次经过波导后形成反射光光斑的M-线被CCD接收到，电脑与CCD连接，用以在线检测M-线的数量以测试待测涡旋光束的拓扑荷数。一种可视化M-线法检测拓扑荷数的方法，包括以下步骤：待测涡旋光束照射至波导表面；涡旋光束被激发并耦合进波导表面内，涡旋光束从波导的另一侧反射出；从波导中反射出的涡旋光束形成反射光斑的M-线进入CCD；根据M-线的数量得出拓扑荷数的数量。本发明的检测方法利用成熟的波导加工工艺，操作简单，检测结果准确度高，可以对多种不同的涡旋光束进行测量，通用性强，通过观察M-线就可以定量测量拓扑荷数，检测效果更为直观。
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