基于有限元分析的低压电器大电流下触头温升测量方法

    公开(公告)号:CN106570289B

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201610989987.3

    申请日:2016-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于有限元分析的低压电器大电流下触头温升测量方法,该方法包括通过工控机、虚拟仪器LabVIEW软件和硬件电路测量出低压电器在过载、短路大电流工作环境下分断过程中触头两端的电压、电流数据和波形,以及电弧的燃弧时间;利用ANSYS有限元软件计算得到不同大电流下触头系统整体温度场分布云图,触头的最高温度随时间的变化曲线;建立触头最高温度值和低压电器电流值的数学关系,并绘制拟合曲线;测量流过低压电器的电流值,计算机通过调用该大电流下的触头最高温度值和低压电器电流值的数学关系,计算出低压电器触头的最高温度。本发明的有益效果是,不仅可以测量出低压电器大电流下触头的温升,而且有效缩短了检测时间,提高了检测效率。

    基于温度场有限元分析的小型断路器内部温升测量方法

    公开(公告)号:CN106644163A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201610989607.6

    申请日:2016-11-10

    CPC classification number: G01K13/00 G06F17/5018

    Abstract: 本发明公开了一种基于温度场有限元分析的小型断路器内部温升测量方法,采用有限元软件计算出不同环境温度下小型断路器整体和内部各个零部件的温度场分布云图,内部各零部件温度的最大值,以及接线端部外表面所有节点的稳态温度值;对仿真得到的接线端部外表面所有节点的稳态温度值进行数据处理,得到其稳态平均值;验证模型的正确性;建立不同环境温度下小型断路器内部各个零部件温度最大值和接线端部外表面温度稳态平均值的数学关系和拟合曲线;选择处于额定工作状态下的小型断路器进行测量,得到小型断路器内部零部件温度的最大值。本发明的有益效果是,能够测量出小型断路器内部各个零部件温度最大值,有效缩短测量时间,大大提高了工作效率。

    基于有限元分析的低压电器大电流下触头温升测量方法

    公开(公告)号:CN106570289A

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201610989987.3

    申请日:2016-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于有限元分析的低压电器大电流下触头温升测量方法,该方法包括通过工控机、虚拟仪器LabVIEW软件和硬件电路测量出低压电器在过载、短路大电流工作环境下分断过程中触头两端的电压、电流数据和波形,以及电弧的燃弧时间;利用ANSYS有限元软件计算得到不同大电流下触头系统整体温度场分布云图,触头的最高温度随时间的变化曲线;建立触头最高温度值和低压电器电流值的数学关系,并绘制拟合曲线;测量流过低压电器的电流值,计算机通过调用该大电流下的触头最高温度值和低压电器电流值的数学关系,计算出低压电器触头的最高温度。本发明的有益效果是,不仅可以测量出低压电器大电流下触头的温升,而且有效缩短了检测时间,提高了检测效率。

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