一种冲击环境下位移响应测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114001903A

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202111391306.0

    申请日:2021-11-23

    IPC分类号: G01M7/08

    摘要: 本发明涉及一种冲击环境下位移响应测量装置及测量方法,该装置的底座两端通过X向旋转轴轴承连接有X向旋转架,X向旋转轴卡接有X向角度传感器,X向角度传感器固定用于底座上,X向旋转架轴承连接Z向旋转轴,Z向旋转轴一端部卡接有Z向角度传感器,Z向角度传感器固定于X向旋转架上,Z向旋转轴上连接有Z向旋转块,Z向旋转块上连接有伸缩位移传感器,伸缩位移传感器端部连接有连接头。测量方法为,记录测量点在未受到冲击时的位置;受到冲击时,记录此过程中每个数据采集时刻的伸缩位移传感器、Z向角度传感器和X向角度传感器的数值,通过位移响应模型得到测量点的位移响应。本发明解决现有的测量方法不便于安装,测量误差大等问题。

    一种冲击环境下位移响应测量装置

    公开(公告)号:CN216410592U

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202122876040.0

    申请日:2021-11-23

    IPC分类号: G01M7/08

    摘要: 本实用新型一种冲击环境下位移响应测量装置,该装置的底座两端通过X向旋转轴轴承连接有X向旋转架,X向旋转轴卡接有X向角度传感器,X向角度传感器固定用于底座上,X向旋转架轴承连接Z向旋转轴,Z向旋转轴一端部卡接有Z向角度传感器,Z向角度传感器固定于X向旋转架上,Z向旋转轴上连接有Z向旋转块,Z向旋转块上连接有伸缩位移传感器,伸缩位移传感器端部连接有连接头。本实用新型解决现有的测量方法不便于安装,测量误差大等问题。

    一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置

    公开(公告)号:CN216248032U

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202122694070.X

    申请日:2021-11-05

    IPC分类号: G01P21/00

    摘要: 本实用新型涉及一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置,该装置的底座内表面上固定设置有导轨,导轨上滑动连接有滑台,滑台上依次固定设置有移动凸轮和齿条;底座上端表面固定设置有导向座,导向座的中心孔内轴承连接有竖直推杆,竖直推杆的上端固定连接有平台,平台上放置中低频响应谱测量设备,竖直推杆的下端销轴连接有摆动推杆的中部,摆动推杆的一端与导向座下表面销轴连接,摆动推杆的另一端与移动凸轮的上表面滑动连接;齿条上啮合有齿轮,齿轮固定在轴上,轴的两端与底座的侧壁轴承连接,轴的一个端部与电机连接,电机固定安装在底座上。本实用新型测得的试验数据准确、完整和可靠。