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公开(公告)号：CN116929967B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202310944458.1
申请日：2023-07-31
申请人： 江苏森标科技有限公司
IPC分类号： G01N3/307 , G01N3/06 , G01N3/02 , B65G47/91 , B65G15/30 , B65G47/82 , B07C5/02 , B07C5/34 , B07C5/36
摘要： 本发明涉及太阳能电池片生产技术领域，具体为一种太阳能成品电池片的检测装置，包括工作台，工作台上设有转盘，工作台内设有步进式电机，转盘上设有多个置放治具，围绕转盘依次设有第一搬运机械手、纠偏装置、抚平装置、第一冲击装置、第二冲击装置、弯曲检测装置、第二搬运机械手和第三搬运机械手，第一搬运机械手、第二搬运机械手和第三搬运机械手的旁侧分别设有第一输送带、第二输送带和第三输送带，第一冲击装置包括第一侧架、上冲击机构和下定位机构，第二冲击装置包括第二侧架、上定位机构和下冲击机构。本发明不仅实现了电池片的自动上下料，还提高了检测的效率以及检测的质量，提高了电池片的生产效率。
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公开(公告)号：CN116929967A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310944458.1
申请日：2023-07-31
申请人： 江苏森标科技有限公司
IPC分类号： G01N3/307 , G01N3/06 , G01N3/02 , B65G47/91 , B65G15/30 , B65G47/82 , B07C5/02 , B07C5/34 , B07C5/36
摘要： 本发明涉及太阳能电池片生产技术领域，具体为一种太阳能成品电池片的检测装置，包括工作台，工作台上设有转盘，工作台内设有步进式电机，转盘上设有多个置放治具，围绕转盘依次设有第一搬运机械手、纠偏装置、抚平装置、第一冲击装置、第二冲击装置、弯曲检测装置、第二搬运机械手和第三搬运机械手，第一搬运机械手、第二搬运机械手和第三搬运机械手的旁侧分别设有第一输送带、第二输送带和第三输送带，第一冲击装置包括第一侧架、上冲击机构和下定位机构，第二冲击装置包括第二侧架、上定位机构和下冲击机构。本发明不仅实现了电池片的自动上下料，还提高了检测的效率以及检测的质量，提高了电池片的生产效率。
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公开(公告)号：CN116740073B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311031443.2
申请日：2023-08-16
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于石墨舟视觉图像的太阳能电池片缺陷检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：获取石墨舟图像；对石墨舟图像进行预处理；计算石墨舟图像的最优分割阈值；根据最优分割阈值，从石墨舟图像中分割出多个电池片图像；根据分割出的多个电池片图像的位置，当某个位置的舟槽中不存在电池片时，确定舟槽存在空片情况；提取电池片图像中的电池片轮廓；对电池片轮廓进行线性拟合；当电池片轮廓的线性拟合结果为直线时，确定电池片无缺陷；当电池片轮廓的线性拟合结果为曲线时，计算曲线的曲率；当曲线的曲率大于预设曲率时，确定电池片存在翘边缺陷。本发明可以提升对于大规模电池片外观缺陷的检测效率。
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公开(公告)号：CN116664565A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310937946.X
申请日：2023-07-28
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种光伏太阳能电池片的隐裂检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：通过线阵相机获取经红外光源照射的光伏太阳能电池片的红外图像；对红外图像进行预处理；从预处理后的红外图像中确定感兴趣区域；对感兴趣区域进行预处理；对预处理后的感兴趣区域进行初步检测，分割出潜在缺陷区域；确定潜在缺陷区域的置信度，当潜在缺陷区域的置信度大于预设置信度时，将潜在缺陷区域确定为正式缺陷区域；对各个正式缺陷区域进行栅线去除处理；提取图像特征，并组成图像特征向量；构建隐裂检测模型，确定隐裂检测模型的最优超平面；根据图像特征向量与最优超平面的位置关系，确定正式缺陷区域为隐裂缺陷区域或者显裂缺陷区域。
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公开(公告)号：CN117805644B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202311827513.5
申请日：2023-12-28
申请人： 江苏森标科技有限公司
IPC分类号： G01R31/389 , G01R31/396 , G01D21/02 , G01R27/02
摘要： 本申请公开了一种非接触式无损伤的测量电池片电阻率的方法，涉及电阻率测量技术领域，包括以下步骤：步骤A1：放置目标对象；步骤A2：采集目标数据；步骤A3：对数据进行预处理；步骤A4：计算固定参数影响指数；步骤A5：计算常温环境电阻率；步骤A6：计算低温环境电阻率；步骤A7：计算高温环境电阻率；步骤A8：进行综合计算，得出实测电阻率ρT并进行迭代修正；步骤A9：输出修正后的最终电阻率并进行人机交互，通过设有步骤A5、步骤A6以及步骤A7，对目标对象在低温、高温以及正常温度下的电阻率情况进行分别计算，由于电池片的电阻率受温度影响，而对于电池片而言，最容易产生的变化即温度值，因此更加全面。
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公开(公告)号：CN118071689B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410118144.0
申请日：2024-01-29
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明属于图像处理技术领域，公开了一种基于机器视觉的光伏电池片丝网印刷缺陷检测方法，包括以下步骤：使用相机采集光伏电池片丝网印刷后的RGB图像；将RGB图像转换为HSV颜色空间；对图像进行滤波增强，包括：计算图像每个像素的大尺度方向梯度矩和小尺度方向梯度矩，并与阈值比较，如果某像素的大尺度方向梯度矩的平均值与小尺度方向梯度矩的平均值的比值大于阈值，则保留该像素，否则滤除该像素；消除图像中的栅线；将图像进行形态学运算，得到图像中的目标图像，并识别图像中目标的缺陷类型。与现有技术相比，本发明采用一种改进的滤波增强算法，结合方向梯度矩判断目标和背景，提高了小缺陷目标的识别能力。
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公开(公告)号：CN117576093B
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410053913.3
申请日：2024-01-15
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明涉及图像缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于EL图像的太阳能电池片隐裂检测方法及系统。所述方法包括以下步骤：获取原始EL图像集；对原始EL图像集进行分辨率尺度堆叠，生成多尺度图像金字塔；对多尺度图像金字塔进行图像分辨率强化，从而生成超分辨率校正图像；对超分辨率校正图像进行连通区域确认，生成图像联通区数据；对图像联通区数据进行主珊线擦除，得到EL区域标准图像；利用像素点异常分数评估公式对EL区域标准图像进行隐裂区域分析，生成隐裂区域投影图；本发明通过EL图像对太阳能电池片进行隐裂深度评估问题和隐裂趋势分析有限问题分析，提高了隐裂区域的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN116758080A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202311042831.0
申请日：2023-08-18
申请人： 江苏森标科技有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T5/00 , G06T7/30
摘要： 本发明公开了一种太阳能电池片丝网印刷缺陷检测方法及系统，属于图像数据处理技术领域，方法包括：获取太阳能电池片图像；对太阳能电池片图像进行灰度化处理；对灰度化处理后的太阳能电池片图像进行滤波降噪处理；对滤波降噪处理后的太阳能电池片图像进行亮度均衡处理；对亮度均衡处理后的太阳能电池片图像进行对比度均衡处理；对对比度均衡处理后的太阳能电池片图像进行配准处理；对配准处理后的太阳能电池片图像进行双线性插值处理；通过卷积神经网络检测是否存在丝网印刷缺陷，并输出丝网印刷缺陷的类型；构建卷积神经网络的损失函数，以最小化损失函数为目标，确定卷积神经网络的最优参数并更新模型参数。
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公开(公告)号：CN116402828B
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310681619.2
申请日：2023-06-09
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明涉及电池片检测技术领域，尤其是涉及一种基于显著图的电池片缺陷检测方法及系统。所述方法包括以下步骤：获取热处理操作数据集，其中热处理操作数据集包括热循环次数、热处理温度以及热处理持温时间，基于热处理操作数据集进行双重序列数据提取操作，生成像素点位显著性分析数据，利用像素点位显著性分析数据进行点位数据对比分析，生成强显著性位点数据以及弱显著性位点数据，对于强显著性位点数据，生成二维拓扑光学显著性图；对于弱显著性位点数据，基于热处理持温时间对电池片进行环境等待处理；本发明通过对热处理操作数据集进行数据处理，提高电池片缺陷检测的效率以及隐私安全性。
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公开(公告)号：CN116228780B
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310521596.9
申请日：2023-05-10
申请人： 江苏森标科技有限公司
摘要： 本发明涉及人工智能技术，揭露了一种基于计算机视觉的硅片缺陷检测方法及系统，该方法包括：对硅片图片进行分割，得到缺陷分割图，对缺陷分割图进行双边降噪以及维纳降噪，得到降噪优化图；生成初级候选框，提取初级候选框的候选特征，将候选特征映射到预设的概率空间，得到缺陷类别以及缺陷概率值；选取目标缺陷，将候选特征对应的初级候选框映射到向量空间，得到偏移向量；对初级候选框进行位置调整，得到初级候选框的标准位置信息，对调整后的初级候选框进行优化，得到标准候选框，将标准候选框以及对应的标准位置信息和目标缺陷作为硅片的缺陷分析结果。本发明可以提高硅片缺陷检测的精确度。
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