一种锥齿轮参数测量机构及测量方法

    公开(公告)号:CN119618132A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202510152942.X

    申请日:2025-02-12

    Abstract: 本发明涉及齿轮检测技术领域,特别涉及一种锥齿轮参数测量机构及测量方法,包括第一探针、第二探针、辅助球体和定位工装:第一探针上具有第一球体,第一球体和位于齿槽大端并与锥齿轮的齿槽两侧面均接触的第一设定球直径相同;第二探针上具有第二球体,第二球体和与锥齿轮的齿槽两侧面以及第一设定球均接触的第二设定球直径相同;辅助球体与第一设定球的直径相同;定位工装上设有与锥齿轮的安装面形状匹配并紧密接合的工装面、作为测量基准面的上端面和用于与第一球体或辅助球体接触的内壁。采用本专利的测量机构,实现了锥齿轮M值和△M值的准确测量。

    一种采用三坐标测量长轴件的检测方法

    公开(公告)号:CN119714153A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411392232.6

    申请日:2024-10-08

    Abstract: 本发明公开了一种采用三坐标测量长轴件的检测方法,包括以下步骤:步骤一:准备检测设备;步骤二:安装装夹机构;步骤三:安装待测工件;步骤四:组装测针;步骤五:新建测量程序;步骤六:在待测工件上选择两个圆,两个圆尽可能远;步骤七:构造轴线a';步骤八:构造轴线a”;步骤九:构成轴线a;步骤十:选择轴线a;步骤十一:测量待测工件。本发明的有益效果是,本技术方案采用长轴件自身元素来校准转台轴,转台轴校准高度覆盖工件至少80%的高度,补偿三坐标测量机的垂直残余误差,提高测量精度,避免了测量点位置离转台平面越远直径结果偏差就越大的现象。

Patent Agency Ranking