基于微流控分离的微纳米颗粒力学性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113899660B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202111184360.8

    申请日:2021-10-11

    Applicant: 江苏大学

    Abstract: 本发明提供了基于微流控分离的微纳米颗粒力学性能测量装置及方法,该装置中注射泵A与气溶胶发生装置一端连接,气溶胶发生装置另一端与单颗粒发生装置的端口A连接,单颗粒发生装置的端口B与注射泵B连接,单颗粒发生装置的端口C与微纳米颗粒堆积及测量装置连接;气溶胶发生装置内设有风扇;单颗粒发生装置包括的三通微流控单颗粒芯片采用电子时钟字体的“4”字型;微纳米颗粒堆积及测量装置包括微纳米颗粒堆积芯片,芯片流道上端内径与三通微流控单颗粒芯片内径相同,流道中部截面为开口变大的弧线,流道底部横截面短边长度DH与微纳米颗粒直径满足DH/d≥20。本发明装置体积小、操作方便,满足不同粒径微纳米颗粒力学性能的精确测量。

    基于微流控分离的微纳米颗粒力学性能测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113899660A

    公开(公告)日:2022-01-07

    申请号:CN202111184360.8

    申请日:2021-10-11

    Applicant: 江苏大学

    Abstract: 本发明提供了基于微流控分离的微纳米颗粒力学性能测量装置及方法,该装置中注射泵A与气溶胶发生装置一端连接,气溶胶发生装置另一端与单颗粒发生装置的端口A连接,单颗粒发生装置的端口B与注射泵B连接,单颗粒发生装置的端口C与微纳米颗粒堆积及测量装置连接;气溶胶发生装置内设有风扇;单颗粒发生装置包括的三通微流控单颗粒芯片采用电子时钟字体的“4”字型;微纳米颗粒堆积及测量装置包括微纳米颗粒堆积芯片,芯片流道上端内径与三通微流控单颗粒芯片内径相同,流道中部截面为开口变大的弧线,流道底部横截面短边长度DH与微纳米颗粒直径满足DH/d≥20。本发明装置体积小、操作方便,满足不同粒径微纳米颗粒力学性能的精确测量。

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