铜微合金、铜微合金导线及其制备方法

    公开(公告)号:CN113046593B

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202110328798.2

    申请日:2021-03-27

    摘要: 一种铜微合金,按重量计含有:钯0.5‑0.7%,金0.3‑0.5%,银0.1‑0.3%,铂0.05‑0.2%,磷0.05‑0.1%,硅0.05‑0.1%,余量为铜。所述铜微合金中,磷以磷化铜(Cu3P2)的形式存在,硅以硅化铜(Cu5Si)的形式存在。本发明还提供一种铜微合金导线,采用上述铜微合金经拉丝工艺制成。本发明还提供上述铜微合金、铜微合金导线的制备方法。本发明的铜微合金导线具有良好的导电性以及高耐蚀性(比纯铜线更耐腐蚀),以及优异的机械强度与电疲劳特性。本发明的铜微合金导线,其拉伸强度介于5~7gf,且通电疲劳寿命大于300次。

    一种铜合金键合丝及其制造方法

    公开(公告)号:CN108598058B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201711393484.0

    申请日:2017-12-21

    IPC分类号: H01L23/49 H01L21/48

    摘要: 一种铜合金键合丝,其特征在于按重量计含有Pd 0.1‑4%,微量添加元素1‑300 ppm,余量为铜;所述微量添加元素是Ca、In、Co、Be、Ga、Mg、Ni、Pt和Al中的一种或其中两种以上的组合。本发明还提供上述铜合金键合丝的一种制造方法。本发明的铜合金键合丝具有以下有益效果:(1)具有优异的作业性(CUP电极下层电路不会打裂或击穿)和可靠性;(2)抗老化性能好,改善封装产品在热冲击试验中的可靠性;(3)有较低的线材硬度,HAZ长度可低至50 um,极大地降低了打线的弧高;(4)对铜‑铝介金属化合物抑制较好;(5)能提供良好的接合性,有效阻止水气浸入接口处,可以改善IC高温高湿环境下金球脱落问题;(6)成本较低,且没有电镀制程,不造成污染排放。

    一种铜合金键合丝及其制造方法

    公开(公告)号:CN108823463A

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201810702746.5

    申请日:2018-06-30

    摘要: 一种铜合金键合丝,其特征在于按重量计含有Ag 0.3-5%,微量添加元素 1-450ppm,余量为铜;所述微量添加元素是Ca、In、Be和Ge中的一种或其中两种以上的组合。本发明还提供上述铜合金键合丝的一种制造方法。本发明的铜合金键合丝具有以下有益效果:(1)具有优异的作业性和可靠性;(2)抗老化性能好;(3)有较适合的线材硬度,极大地降低了打线的弧高;(4)IC打线时,对一焊电极没有造成破裂和损伤;(5)能提供良好的接合性;(6)成本较低。

    一种金合金键合丝及其制造方法

    公开(公告)号:CN105908002B

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201610254657.X

    申请日:2016-04-22

    摘要: 一种金合金键合丝,其特征在于按重量计含有:钯1-1.5%,银20-24%,钙、铍和铈中的一种和其中多种的组合2-200 ppm,余量为金。本发明还提供上述金合金键合丝的一种制造方法。本发明的金合金键合丝可用于IC、LED封装中,综合打线性能优异,具体体现在:热影响区长度小(可达到53-60 um),极大地降低了打线的弧高;烧球性能好,在FAB烧球后得到数目适中的对称柱状晶,变形球真圆度高;封装后产品热冲击性能好,可靠性高。

    一种银合金键合丝及其制造方法

    公开(公告)号:CN108796285B

    公开(公告)日:2020-10-13

    申请号:CN201810702747.X

    申请日:2018-06-30

    IPC分类号: C22C5/06 C22F1/14 H01L33/62

    摘要: 一种银合金键合丝,其特征在于按重量计含有Au 0.1‑2%,Pd 0.1‑3%,微量添加元素1‑7000ppm,余量为Ag;所述微量添加元素是Ca、Cu、Be、In和Ge中的一种或其中两种以上的组合。本发明还提供上述银合金键合丝的一种制造方法。本发明的银合金键合丝具有以下有益效果:(1)抗硫化性能优异;(2)抗老化性能优异,改善封装产品在热冲击试验中的可靠性;(3)电阻率低(低至2.0μΩ‑cm);(4)打线作业窗口大具有良好的作业性;(5)FAB烧球良好,无滑球,焊点的接合强度大,可靠性高。

    银合金键合丝及其制造方法

    公开(公告)号:CN108598006B

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN201711444062.1

    申请日:2017-12-27

    IPC分类号: H01L21/48 H01L21/60

    摘要: 一种银合金键合丝,按重量计含有Au 11‑30%,Pd 0.1‑10%,微量添加元素2‑1000 ppm,余量为Ag;所述微量添加元素是Ca、Cu、Be、In、Si、Pt和Ge中的一种或其中两种以上的组合。本发明还提供上述银合金键合丝的一种制造方法。本发明的银合金键合丝具有以下有益效果:(1)抗硫化性能优异;(2)抗老化性能优异,改善封装产品在热冲击试验中的可靠性,在同等老化条件下(‑40℃~100℃),本发明的银合金键合丝能够经受250‑300回合的热冲击;(3)打线作业窗口大具有良好的作业性;(4)FAB烧球良好,无滑球,焊点的接合强度大,可靠性高;FAB烧球时可以通氮氢混合气(气体流量:0.3~0.6 L/min)或不通气体,基于成本与安全性方面的考虑,可省去氮氢混合气的使用。