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发明公开
预测数控组件磨损的方法、系统、电子设备和存储介质审中-公开

公开(公告)号：CN118219059A

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202410372390.9

申请日：2024-03-28

Applicant: 比亚迪股份有限公司

Inventor： 王进要 , 张月宝 , 史新宝

IPC: B23Q17/09

Abstract: 本发明公开了一种预测数控组件磨损的方法、系统、电子设备和存储介质。预测数控组件磨损的方法，用于数控组件监测终端，方法包括：获取数控组件驱动件运行的电流值、数控组件的切削深度值和数控的进给率值；获得数控组件的当前磨损值，当前磨损值为数控组件磨损预测模型的输出值，数控组件磨损预测模型表示为以电流值、切削深度值和进给率值作为输入以及数控组件的磨损值作为输出的预测模型。本发明实施例提出的用于数控组件监测终端的预测数控组件磨损的方法，数据采集更加方便且更加准确，能够提升对数控组件磨损情况预测的准确性。

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