校验氦检数据的方法、电子设备、存储介质和氦检机

    公开(公告)号:CN118392400B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410855345.9

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本发明公开了一种校验氦检数据的方法、电子设备、存储介质和氦检机,其中,校验氦检数据的方法,用于氦检机的下级控制器,包括:获取氦检机的上级控制器回传的测试产品的全部或部分氦检数据,所述全部或部分氦检数据为一条字符串;获得所述全部或部分氦检数据的校验结果;根据校验结果进行提示。本发明实施例的用于氦检机的下级控制器的校验氦检数据的方法,在测试现场即能实现对上级控制器保存的数据进行二次校验,还能够大幅度减少接收数据的时间,避免逐条接收数据对生产节拍造成的浪费。

    校验氦检数据的方法、电子设备、存储介质和氦检机

    公开(公告)号:CN118392400A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410855345.9

    申请日:2024-06-28

    Abstract: 本发明公开了一种校验氦检数据的方法、电子设备、存储介质和氦检机,其中,校验氦检数据的方法,用于氦检机的下级控制器,包括:获取氦检机的上级控制器回传的测试产品的全部或部分氦检数据,所述全部或部分氦检数据为一条字符串;获得所述全部或部分氦检数据的校验结果;根据校验结果进行提示。本发明实施例的用于氦检机的下级控制器的校验氦检数据的方法,在测试现场即能实现对上级控制器保存的数据进行二次校验,还能够大幅度减少接收数据的时间,避免逐条接收数据对生产节拍造成的浪费。

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