判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法

    公开(公告)号:CN100489509C

    公开(公告)日:2009-05-20

    申请号:CN200310112599.X

    申请日:2003-12-11

    Abstract: 一种判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法,采用X射线光电子能谱仪进行分析,激发源为单色的Al的X射线,分析直径为φ800μm,不用电子中和枪对元素结合能进行荷电效应校正,得到钴和锂钴氧化物表面的金属元素特征峰的半峰高宽FWHM,根据得到半峰高宽FWHM判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态。本发明采用统计分析,可以快速、准确地判断金属氧化物在锂钴氧化物表面的分散与聚集状态。

    判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法

    公开(公告)号:CN1627062A

    公开(公告)日:2005-06-15

    申请号:CN200310112599.X

    申请日:2003-12-11

    Abstract: 一种判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法,采用X射线光电子能谱仪进行分析,激发源为单色的Al的X射线,分析直径为φ800μm,不用电子中和枪对元素结合能进行荷电效应校正,得到钴和锂钴氧化物表面的金属元素特征峰的半峰高宽FWHM,根据得到半峰高宽FWHM判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态。本发明采用统计分析,可以快速、准确地判断金属氧化物在锂钴氧化物表面的分散与聚集状态。

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