一种PCBA AI缺陷检测方法及系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119338769A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411395444.X

    申请日:2024-10-08

    Abstract: 本发明属于但不限于PCBA缺陷检测技术领域,公开了一种PCBA AI缺陷检测项目需求响应方法及系统,采用多尺度长程融合、上下文信息、超分辨率和分块检测改进目标检测算法,进行微小目标的检测识别;采用上下文信息、深度特征匹配的方法,识别目标的细粒度;采用3D点云和X光透视,使用多传感器融合检测框架,进行不可视缺陷检测。本发明利用深度学习等AI技术,有效提高对PCBA板上细小缺陷的检测精度,减少漏检和误检。AI技术能够自动识别并学习缺陷特征,效率和准确性显著提高。AI模型能够通过持续学习优化自身算法,使得检测系统能够适应不同的PCBA板和生产环境,增强了检测系统的普适性和灵活性。

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