公开(公告)号：CN119644374B

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202510170773.2

申请日：2025-02-17

Applicant: 武汉大学

Inventor： 雷雨潇 ,  张良 ,  姚宜斌 ,  张豹 ,  王伟棠

IPC: G01S19/37 ,  G06N3/084 ,  G06N3/04

Abstract: 本发明公开一种基于掩星观测的等效全球平均TEC计算方法及装置，方法包括：获取待计算参考时刻前后各预设时段内由掩星事件计算得到的VTEC特征参数；将所述VTEC特征参数输入训练后的神经网络模型，输出对应参考时刻的等效全球平均TEC。本发明利用全球的掩星观测来计算与全球平均TEC等效的参数，即等效全球平均TEC参数，简化了全球平均TEC的计算流程。

公开(公告)号：CN119644374A

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202510170773.2

申请日：2025-02-17

Applicant: 武汉大学

Inventor： 雷雨潇 ,  张良 ,  姚宜斌 ,  张豹 ,  王伟棠

IPC: G01S19/37 ,  G06N3/084 ,  G06N3/04

Abstract: 本发明公开一种基于掩星观测的等效全球平均TEC计算方法及装置，方法包括：获取待计算参考时刻前后各预设时段内由掩星事件计算得到的VTEC特征参数；将所述VTEC特征参数输入训练后的神经网络模型，输出对应参考时刻的等效全球平均TEC。本发明利用全球的掩星观测来计算与全球平均TEC等效的参数，即等效全球平均TEC参数，简化了全球平均TEC的计算流程。