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公开(公告)号：CN111123300A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN202010031303.5
申请日：2020-01-13
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明提供一种近实时大范围高精度电离层电子密度三维监测方法及装置，引入单点上空电离层垂直廓线作为约束，通过引入外部三维电离层先验约束信息，利用卡尔曼滤波和函数级电离层层析，实现高精度大范围电离层电子密度三维监测。本发明综合GNSS观测和垂测仪以及掩星探测等多类大地测量手段技术优势，创新实现电离层三维大范围高精度监测。利用本发明技术方案，可在现有基础设施的基础上实现区域/全球电离层电子密度三维探测。鉴于全球/中国目前GNSS台站分布密度、以及垂测仪台站和掩星事件分布，采用本发明即可实现大范围高精度三维电离层监测。
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公开(公告)号：CN111123300B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202010031303.5
申请日：2020-01-13
Applicant: 武汉大学
Abstract: 本发明提供一种近实时大范围高精度电离层电子密度三维监测方法及装置，引入单点上空电离层垂直廓线作为约束，通过引入外部三维电离层先验约束信息，利用卡尔曼滤波和函数级电离层层析，实现高精度大范围电离层电子密度三维监测。本发明综合GNSS观测和垂测仪以及掩星探测等多类大地测量手段技术优势，创新实现电离层三维大范围高精度监测。利用本发明技术方案，可在现有基础设施的基础上实现区域/全球电离层电子密度三维探测。鉴于全球/中国目前GNSS台站分布密度、以及垂测仪台站和掩星事件分布，采用本发明即可实现大范围高精度三维电离层监测。
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