公开(公告)号：CN109428532A

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201710828903.2

申请日：2017-09-14

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 李曦 ,  梁广东 ,  李院生 ,  李东 ,  黄伟健 ,  张艳芬 ,  高威威 ,  魏俊立

IPC: H02P23/14 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06

Abstract: 本发明提供一种用于抗扰动控制的交流伺服系统控制参数优化方法，包括：获取一组PI初始参数和所述一组PI初始参数附近一定范围内的另外两组PI初始参数；基于所述一组PI初始参数和所述另外两组PI初始参数进行PI参数优化处理，获取优化后的PI参数；对所述优化后的PI参数进行评价，判断所述优化后的PI参数是否满足优化结束条件；如果所述优化后的PI参数满足优化结束条件，获得目标PI参数。本发明还提供一种设置PI初始参数的方法。

公开(公告)号：CN107832485A

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201710829371.4

申请日：2017-09-14

Applicant: 华中科技大学 ,  武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 李曦 ,  李院生 ,  梁广东 ,  黄伟健 ,  张艳芬 ,  高威威 ,  魏俊立

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明提供一种仿真模型控制参数的优化方法，包括：根据受控对象的控制系统基本参数构建半物理仿真模型；对所述半物理仿真模型进行仿真处理，获得仿真结果；对所述仿真结果进行拟合插值，获得所述受控对象工作在预期状态下的控制参数；其中，在所述参数优化步骤中，通过对所述仿真结果的指标分析和仿真步长的计算，获得预期状态下的所述控制参数。

公开(公告)号：CN203054186U

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN201320056495.0

申请日：2013-01-31

Applicant: 武汉华中数控股份有限公司

Inventor： 刘江涛 ,  汪希进 ,  李院生 ,  周华磊 ,  林杰 ,  鲜飞 ,  王鹏贺 ,  杨巍

IPC: G01R31/28

Abstract: 本实用新型公开了一种通用板卡测试装置；该装置包括依次连接的显示器、控制器、信号发生器和信号转换器，信号转换器还分别与待测板的输入接口和输出接口连接；控制器用于控制信号发生器，信号发生器用于给待测板提供激励信号并接收所述待测板输出的反馈信号；信号转换器用于对信号发生器输出的信号和所述待测板输出的反馈信号进行处理；显示器用于显示测试结果。本实用新型提供的通用板卡测试装置可以完全替代过程繁琐的人工检测，同时还可以兼容不同类型的待测板卡；检测效率高，可以实现批量测试；测试过程自动化，智能化，准确率高；适用范围广，整体成本低。