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公开(公告)号：CN114556045B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202080073157.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种装置中的位置测定方法，该装置具有拍摄部和检测拍摄部的位置的位置检测部，该装置使用拍摄测定点时的位置检测部的检测值对测定点在特定坐标系中的位置坐标进行测定，该位置测定方法更准确地校正位置检测部的检测值。通过装置取得二维地配置有指标部(22)的校正板(20)中的指标部(22)在特定坐标系中的位置坐标作为实测值，取得将预先由其他装置取得的指标部(22)相对于校正板(20)的基准的位置坐标变换为特定坐标系中的位置坐标而得到的真值与实测值的差分作为校正值，使用校正值对位置检测部(8、9、10)的检测值进行校正，拍摄部(3)按照规定的路径对测定对象(3)中的多个测定点(P)进行拍摄，由此测定多个测定点(P)的位置坐标，与所述路径相关联地取得校正值。
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公开(公告)号：CN110186926A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201811509322.3
申请日：2018-12-11
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 林信吾
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种外观检查装置以及外观检查装置的照明条件设定方法，即便不具备充分的光学知识或经验，也能够在外观检查装置中设定最优照明条件。本外观检查装置具有照明部，将照明光照射于被检查物；摄像部，对被检查物进行拍摄；缺陷检测部，对由摄像部所拍摄的被检查物的图像进行分析，检测被检查物的缺陷；照明条件设定部，设定照射于被检查物的照明光的照明条件；以及最优照明条件导出部，根据利用多个不同的所述照明条件所拍摄的图像对各照明条件进行评分，由此导出最优照明条件，此最优照明条件是最适于缺陷检测部检测被检查物的缺陷的照明条件。
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公开(公告)号：CN114556045A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202080073157.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
Abstract: 一种装置中的位置测定方法，该装置具有拍摄部和检测拍摄部的位置的位置检测部，该装置使用拍摄测定点时的位置检测部的检测值对测定点在特定坐标系中的位置坐标进行测定，该位置测定方法更准确地校正位置检测部的检测值。通过装置取得二维地配置有指标部(22)的校正板(20)中的指标部(22)在特定坐标系中的位置坐标作为实测值，取得将预先由其他装置取得的指标部(22)相对于校正板(20)的基准的位置坐标变换为特定坐标系中的位置坐标而得到的真值与实测值的差分作为校正值，使用校正值对位置检测部(8、9、10)的检测值进行校正，拍摄部(3)按照规定的路径对测定对象(3)中的多个测定点(P)进行拍摄，由此测定多个测定点(P)的位置坐标，与所述路径相关联地取得校正值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116538958A
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310085773.3
申请日：2023-01-18
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供偏移量的测定方法、测定装置和非暂时性地存储程序的存储介质，能够测定用于对拍摄体进行拍摄的照相机的设置角度相对于轴的基准方向的偏移量，以低成本且高精度地校正设置角度的偏移。使用了用于测定照相机的设置角度相对于轴的基准方向的偏移量的测定装置的测定方法的特征在于，具有：拍摄步骤，以不同的视野多次拍摄附加有能够确定斜率已知的直线的基准指标的目标物；图像处理步骤，与以不同的视野拍摄到的图像中的各个基准指标对应地求出基于基准指标确定出的直线；以及计算步骤，计算使多个直线之间的距离为0的旋转角作为设置角度的偏移量。
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公开(公告)号：CN113167606A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201980079199.2
申请日：2019-12-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 提供更准确地校正由线性标尺的检测值确定的拍摄对象上的点的位置坐标的方法。使视野移动到对校准板上形成的凹部定义的计测点来进行拍摄(步骤S13‑1)，从凹部的端缘的图像检测边缘(步骤S13‑2)，计算该边缘的交点(步骤S13‑3)，保存该交点的基于线性标尺的实测值(步骤S13‑4)，使用与真值的差分，对拍摄对象上的点的由线性标尺检测出的位置坐标进行校正。
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公开(公告)号：CN113167606B
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN201980079199.2
申请日：2019-12-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 提供更准确地校正由线性标尺的检测值确定的拍摄对象上的点的位置坐标的方法。使视野移动到对校准板上形成的凹部定义的计测点来进行拍摄(步骤S13‑1)，从凹部的端缘的图像检测边缘(步骤S13‑2)，计算该边缘的交点(步骤S13‑3)，保存该交点的基于线性标尺的实测值(步骤S13‑4)，使用与真值的差分，对拍摄对象上的点的由线性标尺检测出的位置坐标进行校正。
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公开(公告)号：CN114450582A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202080068180.0
申请日：2020-03-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956
Abstract: 本发明提供在取得检查对象的检查区域的图像并且利用高度测定装置测定检查区域内的规定部位的高度的外观检查装置中能够更准确地判定焊料突出不良的技术。外观检查装置具备：拍摄部(3)，其拍摄检查对象(30)上的检查区域；高度测定部(20)，其通过射出测定光并接收其反射光来测定检查区域的规定部位的高度；移动机构(5)，其使拍摄部(3)及高度测定部(20)与检查对象相对地移动；以及判定部，其基于检查区域的图像和规定部位的高度的信息，判定检查区域中的检查对象有无不良，在从高度测定部(20)射出的测定光被照射到检查对象中的限制区域(M)的情况下，限制判定部基于由高度测定部(20)测定出的规定部位的高度的信息进行不良判定。
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