Patent search ap:("欧姆龙株式会社") AND inv:"儿岛清志朗" Page 1

1.

发明公开
光干涉测距传感器审中-实审

公开(公告)号：CN116736314A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202310198621.4

申请日：2023-02-27

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 木村和哉 , 早川雅之 , 长崎裕介 , 儿岛清志朗

IPC: G01S17/08 , G01S7/481 , G01B9/02004

Abstract: 本发明提供能够根据到测量对象物的测量距离设定适当的测量条件的光干涉测距传感器。光干涉测距传感器(100)具备：光源(110)，边改变波长边投射光；干涉仪(130)，被供给从光源投射的光，并生成基于测定光和参照光的干涉光，测定光是通过传感头(131)照射到测量对象物(T)并被反射的光，参照光是沿至少一部分与测定光不同的光路行进的光；受光部(140)，接收来自干涉仪的干涉光并转换为电信号；处理部(150)，基于经受光部转换后的电信号，算出从传感头至测量对象物的距离；辨别单元(160)，基于以干涉仪生成的差拍信号辨别传感头；以及设定单元(170)，设定与通过辨别单元辨别出的传感头对应的测量条件。

Patent Agency Ranking