位移测量装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111982017A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010883783.8

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 本发明提供一种位移测量装置,用以让用户容易识别包括不具有电子电路的传感器头的位移测量装置的测量状态。位移测量装置(1)包括:传感器头(30),具有光学系统且不具有电子电路;控制器(100);第1光纤维,将来自光投射部(10)的照射光传递至传感器头(30);及第2光纤维,将来自传感器头(30)的反射光传递至控制器(100)。控制部(50)具有:第1模式,对传感器头(30)与反射位置之间的距离进行测量;及第2模式,通过光投射部(10)的光投射状态来表示传感器头(30)与反射位置之间的距离是否处于规定距离范围的中央部。

    位移测量装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111982017B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202010883783.8

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 本发明提供一种位移测量装置,用以让用户容易识别包括不具有电子电路的传感器头的位移测量装置的测量状态。位移测量装置(1)包括:传感器头(30),具有光学系统且不具有电子电路;控制器(100);第1光纤维,将来自光投射部(10)的照射光传递至传感器头(30);及第2光纤维,将来自传感器头(30)的反射光传递至控制器(100)。控制部(50)具有:第1模式,对传感器头(30)与反射位置之间的距离进行测量;及第2模式,通过光投射部(10)的光投射状态来表示传感器头(30)与反射位置之间的距离是否处于规定距离范围的中央部。

    位移测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108571936A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201711360394.1

    申请日:2017-12-15

    Abstract: 本发明提供一种位移测量装置,用以让用户容易识别包括不具有电子电路的传感器头的位移测量装置的测量状态。位移测量装置(1)包括:传感器头(30),具有光学系统且不具有电子电路;控制器(100);第1光纤维,将来自光投射部(10)的照射光传递至传感器头(30);及第2光纤维,将来自传感器头(30)的反射光传递至控制器(100)。控制部(50)具有:第1模式,对传感器头(30)与反射位置之间的距离进行测量;及第2模式,通过光投射部(10)的光投射状态来表示传感器头(30)与反射位置之间的距离是否处于规定距离范围的中央部。

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