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发明公开
测定装置、测定系统以及程序审中-实审

公开(公告)号：CN119535304A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411119188.1

申请日：2024-08-15

Applicant: 横河电机株式会社 , 横河计测株式会社

Inventor： 谷川彰 , 森山裕之 , 片冈浩一

IPC: G01R31/66 , G01D21/02 , H02J4/00

Abstract: 本发明涉及一种能够使框架控制器应对多插槽宽度模块的测定装置、测定系统以及程序。测定装置具有：多个插槽，它们能够连接模块；电源管理部，其控制针对与所述多个插槽连接的所述模块的电力的供给；以及显示部，其对利用所述模块获取的测定信号进行显示，所述电源管理部在所述多个插槽的任一者中检测出异常的情况下，将与检测出该异常的所述插槽连接的所述模块所连接的所有所述插槽确定为对象插槽，使所述确定的对象插槽的电力的供给停止。

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