测定装置、测定系统以及程序
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119535304A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411119188.1

    申请日:2024-08-15

    Abstract: 本发明涉及一种能够使框架控制器应对多插槽宽度模块的测定装置、测定系统以及程序。测定装置具有:多个插槽,它们能够连接模块;电源管理部,其控制针对与所述多个插槽连接的所述模块的电力的供给;以及显示部,其对利用所述模块获取的测定信号进行显示,所述电源管理部在所述多个插槽的任一者中检测出异常的情况下,将与检测出该异常的所述插槽连接的所述模块所连接的所有所述插槽确定为对象插槽,使所述确定的对象插槽的电力的供给停止。

    校正数据内置测定器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118501065A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202311806827.7

    申请日:2023-12-26

    Inventor: 片冈浩一

    Abstract: 本发明容易地对测定值进行校正。校正数据内置测定器能够进行可追溯的测定,具有:传感器;校正数据管理部,对校正数据内置测定器的校正数据进行储存;设定数据管理部,对校正数据内置测定器的设定条件进行储存;存储部,能够储存传感器测定出的测定值;以及可追溯性判定部。校正数据包含表示与上位基准器的测定结果的差值的多个校正结果、及多个校正条件,各校正结果与获取到该校正结果时的校正条件相关联。可追溯性判定部对设定条件及测定值与多个校正条件进行对比,在存在与设定条件及测定值一致的校正条件的情况下,利用与校正条件相关联的校正结果对测定值进行校正并计算校正完毕测定值,将计算出的校正完毕测定值储存于存储部。

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