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公开(公告)号：CN119102138A
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202410728561.7
申请日：2024-06-06
Applicant: 横河电机株式会社
Abstract: 本发明提供信息提供装置、信息提供方法以及计算机可读取的存储介质，在造纸工序中以高精度使纸的厚度实现均匀化。实施方式的信息提供装置(10)具有获取部(141)、计算部(142)以及提供部(143)。获取部(141)基于所提供的指标，获取利用辊通过不同的按压对纸的各部分进行加压的加压工序之前或者之后的、纸的各部分的厚度的测定值以及纸的各部分的水分率的测定值。计算部(142)基于厚度的测定值以及水分率的测定值，对纸的水分率变化之后的纸的厚度的推定值进行计算。提供部(143)将推定值作为指标而提供给执行加压工序的装置。
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公开(公告)号：CN102338744B
公开(公告)日：2015-09-02
申请号：CN201110204489.0
申请日：2011-07-20
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/0691 , G01N21/86 , G01N2021/8663
Abstract: 本发明提供一种多通道测光测定装置，其不会产生噪声。该多通道测光测定装置具有：光出射装置，其含有分别由不同的多个频率驱动的多个光源；以及光检测器，其对来自该光出射装置的多束光进行检测，将来自该光检测器的输出按照各个频域进行区分，该多通道测光测定装置的特征在于，使驱动所述光源的不同频率的多个信号通过单个含有高次谐波成分在内的信号发生器一起生成，将所述多个频率按照各个频域进行区分的单元具有下述机构，即，通过使获取的数据的时间窗宽度与调制信号频率的倒数的整数倍一致，从而伎各个调制信号彼此具有正交性。
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公开(公告)号：CN101995225B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201010257722.7
申请日：2010-08-16
Applicant: 横河电机株式会社
Inventor： 西田和史
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0633
Abstract: 一种膜厚度测量设备可包括：光谱获取单元，其将光照射到测量目标膜上并获取反射光或透射光的光谱；功率谱计算单元，其计算功率谱；膜厚度计算单元，其检测功率谱的峰值位置并计算膜的厚度；测量质量计算单元，其计算厚度的测量质量；测量质量确定单元，其确定厚度是有效还是无效；以及膜厚度输出单元，如果测量质量确定单元确定厚度有效则输出厚度。
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公开(公告)号：CN101294795A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200810093249.6
申请日：2008-04-23
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01N21/8422 , G01B11/0625 , G01N21/31
Abstract: 本发明的薄膜厚度测量装置包括：光源，其发射将要照射在多层薄膜上的白光；分光器，其对由于将白光照射在多层薄膜上而得到的反射光进行色散以得到反射光谱；和计算部分，所述计算部分包括：设置部分，其为反射光谱设置多个波长范围；第一转换部分，其通过分别对反射光谱中的处在由所述设置部分设定的多个波长范围内的反射光谱进行等间隔重排序来获得波数范围反射光谱；第二转换部分，其将在所述第一转换部分中得到的多个波长范围内的波数范围反射光谱分别转换成功率谱；以及运算部分，其基于功率谱得到多层薄膜的薄膜厚度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111238380A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN201911059835.3
申请日：2019-11-01
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供一种测定装置，在现有厚度仪中，在测定具有吸水性的测定对象物的厚度的情况下，测定光及参考光的透过率会因测定对象物的吸水量而变化，测定误差会增加。所述测定装置测定片状测定对象物的厚度，具备：检测部，其检测第一光强度、第二光强度及第三光强度，所述第一光强度是使具有第一波长的第一光透过测定对象物后的光的强度，所述第二光强度是使具有第二波长的第二光透过测定对象物后的光的强度，该第二波长是测定对象物的材料的吸收率比第一波长时低的波长，所述第三光强度是使具有第三波长的第三光透过测定对象物后的光的强度，该第三波长是测定对象物的材料的吸收率比第一波长时低，且含有流体的测定对象物的吸收率比第二波长时低的波长；厚度算出部，其使用第一光强度、第二光强度、及第三光强度，计算出测定对象物的厚度。
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公开(公告)号：CN101514888B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200910006484.X
申请日：2009-02-18
Applicant: 横河电机株式会社
Inventor： 西田和史
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明提供一种膜厚测定装置及方法，能安定而连续地测定具复折射性的待测定对象的膜厚。膜厚测定装置(1)，包含：光谱测定部(10)，将对于待测定膜F照射白色光而得到的反射光予以分光，并测定反射分光光谱；运算部(20)，对于经测定的反射分光光谱施加既定运算，而测定待测定膜F膜厚。运算部(20)，包含：波数转换部(23)，将反射分光光谱之中，预先设定的波长区域的反射分光光谱转换为重排为既定波数间隔的波数域反射分光光谱；傅利叶转换部(24)，将波数域反射分光光谱转换为功率谱；计算部(峰部检测部(25)、加权平均部(26)，及膜厚计算部(27))，求出在功率谱中出现的峰部的重心位置，依据此重心位置求出待测定膜F厚度。
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公开(公告)号：CN117309146A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202310628458.0
申请日：2023-05-30
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01J3/46
Abstract: 本公开所涉及的色度计(1)是测量被测物(A)的色度的色度计(1)，所述色度计(1)包括：第一光源部(11)，照射具有第一光谱(S1)的第一照射光；第二光源部(12)，照射具有不同于第一光谱(S1)的第二光谱(S2)的第二照射光；积分球(61)，其被入射包含第一照射光以及第二照射光的照射光；受光部(20)，对从积分球(61)出射的照射光照射到被测物(A)而产生的被测光进行检测；以及控制部(50)，基于被测光的检测信号，算出被测光的分光光谱，第一光谱(S1)与第二光谱(S2)的叠加光谱(S)对应于成为算出色度的基准的标准光源的基准光谱(S0)。
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公开(公告)号：CN103727880B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201310478380.5
申请日：2013-10-14
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/50
Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。
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公开(公告)号：CN101294795B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200810093249.6
申请日：2008-04-23
Applicant: 横河电机株式会社
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01N21/8422 , G01B11/0625 , G01N21/31
Abstract: 本发明的薄膜厚度测量装置包括：光源，其发射将要照射在多层薄膜上的白光；分光器，其对由于将白光照射在多层薄膜上而得到的反射光进行色散以得到反射光谱；和计算部分，所述计算部分包括：设置部分，其为反射光谱设置多个波长范围；第一转换部分，其通过分别对反射光谱中的处在由所述设置部分设定的多个波长范围内的反射光谱进行等间隔重排序来获得波数范围反射光谱；第二转换部分，其将在所述第一转换部分中得到的多个波长范围内的波数范围反射光谱分别转换成功率谱；以及运算部分，其基于功率谱得到多层薄膜的薄膜厚度。
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